Qadar, R. M. A., Habib, K., Khan, R., Daniel, K., Raja, H. A., Shabbir, N.

full record print

Enhancing transmission line reliability : an AI-driven approach to fault identification and classification

author

Shabbir, Noman

Kamran, Daniel

Raja, Hadi Ashraf

source

Electronics

publisher

MDPI

year of publication

2024

ISSN

2079-9292

Open Access

scientific publication

teaduspublikatsioon

language

inglise

Märksõnad ja võtmesõnad

subject term

tehisintellekt

rikked

Teaduspublikatsiooni meetrika

classifier

1.1

TalTechi üksused

TTÜ department

Targa linna tippkeskus

elektroenergeetika ja mehhatroonika instituut

Qadar, R. M. A., Habib, K., Khan, R., Daniel, K., Raja, H. A., Shabbir, N. Enhancing transmission line reliability : an AI-driven approach to fault identification and classification // Electronics (2024)