Метод исследования технологического процесса производства интегральных микросхем, основанный на анализе кластеров состояний

location of publication
Таллин
year of publication
pages
с. 39-43
series variant title
TPI Toimetised ; 540
Труды ТПИ ; 540
notes
Библиогр. : 4 назв
language
vene