Системное исследование влияния технологического микроклимата на качество интегральных микросхем
author
Rätsep, Ülo
statement of authorship
Ю.П. Рятсеп
source
Методы обработки и регистрации сигналов
location of publication
Таллин
publisher
Таллинский политехнический институт
year of publication
1981
pages
с. 53-58 : илл
series
Tallinna Polütehnilise Instituudi toimetised = Труды Таллинского политехнического института ; 521
Радиотехника ; 9
series variant title
TPI Toimetised ; 521
Труды ТПИ ; 521
url
https://www.ester.ee/record=b1507633*est
https://digikogu.taltech.ee/et/Item/b58bba27-822f-44c3-8387-50d8a26bb3d3
subject term
integraallülitused
kvaliteet
tootmistehnoloogia
mikrokliima
TalTech subject term
Tallinna Tehnikaülikooli toimetised
ISSN
0136-3549
0320-3441
notes
Библиогр. : 5 назв
Summary: Evaluation of influence of the plant environment parameters on the quality of integrated circuits
scientific publication
teaduspublikatsioon
classifier
3.2
TalTech department
raadiotehnika kateeder
language
vene