Прогнозирование качества интегральных микросхем на основе кластеров состояний
author
Budarin, Vladimir
Rätsep, Ülo
Teevet, J.-T.
statement of authorship
В.Н. Бундарин, Ю.П. Рятсеп, Дж.-Т.Э. Тээвет
source
Методы и средства цифровой обработки сигналов
location of publication
Таллин
publisher
Таллинский политехнический институт
year of publication
1984
pages
с. 111-115
series
Tallinna Polütehnilise Instituudi toimetised = Труды Таллинского политехнического института ; 582
Радиотехника ; 10
series variant title
TPI Toimetised ; 582
Труды ТПИ ; 582
url
https://www.ester.ee/record=b1302208*est
https://digikogu.taltech.ee/et/Item/e49ece5a-b726-4a2f-860f-748b84670a0c
subject term
integraallülitused
kvaliteet
prognostika
klastrid
TalTech subject term
Tallinna Tehnikaülikooli toimetised
ISSN
0136-3549
0320-3441
notes
Библиогр. : 4 назв
Summary: Integrated circuits quality prediction on the basis of condition clusters
scientific publication
teaduspublikatsioon
classifier
3.2
TalTech department
raadiotehnika kateeder
language
vene