Критические параметры эквивалентных моделей полупроводниковых приборов

author
statement of authorship
Т. Ранг
location of publication
Таллин
year of publication
pages
с. 72-76 : ил
ISSN
0136-3549
3134-3823
notes
Библиогр. : 1 назв
Abstract: Critical parameters of the models of semiconductor devices
scientific publication
teaduspublikatsioon
classifier
3.2
TalTech department
language
vene