Подготовка напряженных хрупких образцов полупроводниковых материалов для просвечивающей электронной микроскопии

statement of authorship
Б.Л. Мейлер
location of publication
Таллин
year of publication
pages
с. 44-48 : ил
ISSN
0136-3549
0136-3581
notes
Библиогр. : 3 назв
Abstract: Preparation of strained fragile semiconducting materials for transmission electron microscopy
scientific publication
teaduspublikatsioon
classifier
3.2
TalTech department
language
vene