Исследование стойкости силовых транзисторов к вторичному пробою
author
Kõverik, Kait
Järvalt, Aldur-Eduard
statement of authorship
К.К. Кыверик, А.Э. Ярвальт
source
Расчет и проектирование измерительных преобразователей
location of publication
Таллин
publisher
Таллинский политехнический институт
year of publication
1983
pages
с. 75-84 : ил
series
Tallinna Polütehnilise Instituudi toimetised = Труды Таллинского политехнического института ; 558
Электротехника и автоматика ; 24
series variant title
TPI Toimetised ; 558
Труды ТПИ ; 558
url
https://www.ester.ee/record=b1288985*est
https://digikogu.taltech.ee/et/Item/4e3815a3-f217-4ae2-9776-1b5ea3c25959
subject term
transistorid
jõuseadised
töörežiim (tehnika)
TalTech subject term
Tallinna Tehnikaülikooli toimetised
ISSN
0136-3549
3134-3823
notes
Библиогр. : 8 назв
Summary: Secondary breakdown limitations of biopolar power transistors
scientific publication
teaduspublikatsioon
classifier
3.2
TalTech department
elektroonika kateeder
language
vene