Физические аспекты учета влияния эффекта электронно-дырочного рассеяния при математическом моделировании полупроводниковых структур
author                    
                    
                
statement of authorship                    
                    
Э.Э. Велмре
                            
                    
location of publication                    
                    
Таллин
                            
                    
publisher                    
                    
                
year of publication                    
                    
                
pages                    
                    
с. 166-174 : ил
                            
                    
series                    
                    
                
series variant title                    
                    
TPI Toimetised ; 674
                            
                            
Труды ТПИ ; 674
                            
                    
TalTech subject term                    
                    
                
notes                    
                    
Библиогр. : 11 назв
                            
                            
Abstract: Some physical aspects of taking into account the effect of electron-hole scattering in mathematical modelling of semiconductor structures
                            
                            
Kokkuvõte: Füüsikalisi aspekte elektron-aukhajumise arvestamisel pooljuhtstruktuuride matemaatilisel modelleerimisel
                            
                    
language                    
                    
vene
                            
                    
                            Велмре, Э.Э. Физические аспекты учета влияния эффекта электронно-дырочного рассеяния при математическом моделировании полупроводниковых структур // Машинное проектирование электронных устройств и систем. Таллин : Таллинский политехнический институт, 1988. с. 166-174 : ил. (Tallinna Polütehnilise Instituudi toimetised = Труды Таллинского политехнического института = Transactions of Tallinn Technical University ; 674, Электротехника и автоматика ; 35).