Исследование миграции примеси меди в монокристаллах сульфида кадмия
author
statement of authorship
Х.А. Аарна, Э.К. Рейтер
location of publication
Таллин
publisher
year of publication
pages
с. 43-48 : ил
series
series variant title
url
ISSN
0136-3549
0320-3395
notes
Библиогр. : 11 назв
Abstract: The study of copper impurity migration in cadmium sulfide single crystals
scientific publication
teaduspublikatsioon
TalTech department
language
vene
subject term
TalTech subject term
classifier
Аарна, Х.А., Рейтер, Э.К. Исследование миграции примеси меди в монокристаллах сульфида кадмия // Электрофизические свойства полупроводниковых и диэлектрических материалов. Таллин : Таллинский политехнический институт, 1986. с. 43-48 : ил. (Tallinna Polütehnilise Instituudi toimetised = Труды Таллинского политехнического института ; 620, Полупроводниковые материалы ; 7). https://www.ester.ee/record=b1296001*est https://digikogu.taltech.ee/et/Item/65e24755-71eb-4a99-b9fe-e1308121ed89