full record print

О точности косвенных методов определения максимальной температуры в полупроводниковых приборах

author
statement of authorship
В.Р. Мяннама, А.Э. Ярвальт
source
location of publication
Таллин
publisher
year of publication
pages
с. 67-72 : ил
series
series variant title
url
ISSN
016-3549
0134-3823
notes
Библиогр. : 8 назв
Summary: Accuracy of the indirect methods of determining peak temperature of semiconductor devices
scientific publication
teaduspublikatsioon
TalTech department
language
vene
Мяннама, В.Р., Ярвальт, А.Э. О точности косвенных методов определения максимальной температуры в полупроводниковых приборах // Проблемы моделирования полупроводниковых структур и сложных схем на ЭВМ. Таллин : Таллинский политехнический институт, 1982. с. 67-72 : ил. (Tallinna Polütehnilise Instituudi toimetised = Труды Таллинского политехнического института ; 538, Электротехника и автоматика ; 21). https://www.ester.ee/record=b1339926*est https://www.etera.ee/zoom/121726/view?page=3&p=separate&search=true&tool=search