Оценка качества толщиномеров пленок
                                            author
                                    
                                    
                                
                                            statement of authorship
                                    
                                    
Р. Лаанеотс
                                                    
                                            
                                            source
                                    
                                    
Тезисы докладов научно-технической конференции по квалиметрии 1972 г
                                                    
                                            
                                            location of publication
                                    
                                    
Таллин
                                                    
                                            
                                            publisher
                                    
                                    
                                
                                            year of publication
                                    
                                    
                                
                                            pages
                                    
                                    
с. 48-50
                                                    
                                            
                                            conference name, date
                                    
                                    
Научно-техническая конференция по квалиметрии 1972 г.
                                                    
                                            
                                            conference location
                                    
                                    
Таллин
                                                    
                                            
                                            TalTech department
                                    
                                    
                                
                                            language
                                    
                                    
vene
                                                    
                                            
                            Лаанеотс, Р. Оценка качества толщиномеров пленок // Тезисы докладов научно-технической конференции по квалиметрии 1972 г. Таллин : [б. и.], 1972. с. 48-50.