Времена жизни неосновных носителей заряда в полупроводниках с учетом Оже-процессов на локализованных состояниях

author
Opotski, Aleksei
statement of authorship
А. Опоцкий
source
Машинное проектирование электронных устройств и систем
location of publication
Таллин
publisher
Таллинский политехнический институт
year of publication
1988
pages
с. 134-148 : ил
series
Tallinna Polütehnilise Instituudi toimetised = Труды Таллинского политехнического института = Transactions of Tallinn Technical University ; 674
Электротехника и автоматика ; 35
series variant title
TPI Toimetised ; 674
Труды ТПИ ; 674
url
https://www.ester.ee/record=b1256708*est
https://digikogu.taltech.ee/et/Item/2e6337b1-2222-4e66-98fb-89178f835390
subject term
Auger' spektroskoopia
pooljuhid
TalTech subject term
Tallinna Tehnikaülikooli toimetised
ISSN
0136-3549
3134-3823
notes
Библиогр. : 7 назв
Abstract: Lifetime of the minority charge carriers in semiconductors with calculation of the Auger-processes on localized states
Kokkuvõte: Vähemus-laengukandjate eluiga pooljuhis Auger`-protseesside arvestamisega lokaalsetes olekutes
scientific publication
teaduspublikatsioon
classifier
3.2
TalTech department
teadusliku uurimise sektor
language
vene