Elektronmikroskoopide kasutamine teadustöös Tallinna Polütehnilises InstituudisPaat, AaduTehnikauuringute areng Eesti NSV-s : vabariikliku konverentsi ettekannete teesid Tallinn, 15.-16. oktoober 19861986 / lk. 179-181 https://www.ester.ee/record=b1258828*est

Method of sample preparation for electron-microscopic measurementsNikittšenko, LudmillaTallinna Tehnikaülikooli Toimetised1992 / lk. 61-65: ill

Metitud rõngasketruslõngade uurimine skaneeriva elektronmikroskoobi abilRoode, Sille; Viikna, Anti; Paat, AaduXXV Eesti keemiapäevad : teaduskonverentsi ettekannete referaadid = 25th Estonian Chemistry Days : abstracts of scientific conference1999 / lk. 154

Влияние облучения низкоэнергетическими электронами в растровом электронном микроскопе на параметры полупроводниковых приборовMeiler, Boriss; Kropman, Daniel; Levtšenkova, AllaМикроэлектроника1987 / с. 165-169 : илл https://www.ester.ee/record=b2147720*est

Изменение параметров интегральных схем при анализе в растровом электронном микроскопеMeiler, BorissЭлектрофизические свойства полупроводниковых и диэлектрических материалов1986 / с. 85-92 https://www.ester.ee/record=b1296001*est

Применение в ТПИ растворного электронного микроскопа в материаловеденииPaat, AaduЭлектрофизические свойства полупроводниковых и диэлектрических материалов1986 / с. 79-84

Применение электронных микроскопов в научных исследованиях в Таллинском политехническом институтеPaat, AaduРазвитие научных исследований в области технических наук в Эстонской ССР : тезисы республиканской конференции, Таллин, 15-16 октября 1986 г.1986 / с. 193-196 https://www.ester.ee/record=b1231513*est