Влияние адсорбционных процессов на электрофизические свойства поверхностных слоев диэлектрических материаловVeimer, Vladimir; Roninson, AleksanderЭлектрофизические свойства полупроводниковых и диэлектрических материалов1983 / с. 57-67 : ил https://www.ester.ee/record=b1291687*est https://digikogu.taltech.ee/et/Item/9447de85-407e-426e-843d-2f0c98097f4e

Влияние влажности на поверхностную и объемную проводимость некоторых диэлектриковBender, Villem; Roninson, Aleksander; Silas, AarneЭлектрофизические свойства полупроводниковых и диэлектрических материалов1983 / с. 79-88 : ил https://www.ester.ee/record=b1291687*est https://digikogu.taltech.ee/et/Item/9447de85-407e-426e-843d-2f0c98097f4e

Импульсно-плазменное легирование кремния сурьмойGavrilov, Aleksei; Katšurin, G.A.Электрофизические свойства полупроводниковых и диэлектрических материалов1983 / с. 15-28 : ил https://www.ester.ee/record=b1291687*est https://digikogu.taltech.ee/et/Item/9447de85-407e-426e-843d-2f0c98097f4e

Импульсно-плазменный отжиг слоев кремния, имплантированных боромGavrilov, Aleksei; Katšurin, G.A.Электрофизические свойства полупроводниковых и диэлектрических материалов1983 / с. 3-13 : ил https://www.ester.ee/record=b1291687*est https://digikogu.taltech.ee/et/Item/9447de85-407e-426e-843d-2f0c98097f4e

Ионные процессы в каркасных алюмосиликатахDenks, Viktor; Mere, Arvo; Ruus, TõnuЭлектрофизические свойства полупроводниковых и диэлектрических материалов1983 / с. 35-51 : ил https://www.ester.ee/record=b1291687*est https://digikogu.taltech.ee/et/Item/9447de85-407e-426e-843d-2f0c98097f4e

Исследование углов смачивания некоторых диэлектрических материаловVeimer, Vladimir; Bender, Villem; Kurik, Lembit; Udris, V.Электрофизические свойства полупроводниковых и диэлектрических материалов1983 / с. 69-78 : ил https://www.ester.ee/record=b1291687*est https://digikogu.taltech.ee/et/Item/9447de85-407e-426e-843d-2f0c98097f4e

Определение концентрационного профиля с помощью двух выпрямляющих контактовMankin, Romi; Paat, AaduЭлектрофизические свойства полупроводниковых и диэлектрических материалов1983 / с. 29-33 : ил https://www.ester.ee/record=b1291687*est https://digikogu.taltech.ee/et/Item/9447de85-407e-426e-843d-2f0c98097f4e

Установка для измерения диэлектрических потерь порошковых материалов в широком интервале температур (80-600 К) и в условиях высокого вакуумаMere, ArvoЭлектрофизические свойства полупроводниковых и диэлектрических материалов1983 / с. 53-56 : ил https://www.ester.ee/record=b1291687*est https://digikogu.taltech.ee/et/Item/9447de85-407e-426e-843d-2f0c98097f4e

Электрофизические свойства полупроводниковых и диэлектрических материалов1983 https://www.ester.ee/record=b1291687*est https://digikogu.taltech.ee/et/Item/9447de85-407e-426e-843d-2f0c98097f4e