• Incorporating service type in aging failure model of high voltage circuit breakerAsefi, Sajjad; Kilter, Jako; Landsberg, Mart2023 27th International Conference Electronics : proceedings2023 / 5 p https://doi.org/10.1109/IEEECONF58372.2023.10177602
  • Maailma mõõtmineKehlmann, Daniel2014 https://www.ester.ee/record=b3085261*est
  • Miks Gauss ikkagi ei tulnud Tartusse?Müürsepp, PeeterTartu Ülikooli muuseumi ja raamatukogu aastakonverents „Morgenstern ja tema aeg“ 3. detsembril 2020 : Ettekannete teesid2020 / lk. 4-5 https://www.muuseum.ut.ee/sites/ajaloomuuseum/files/pildid/konverents_Morgernstern%20ja%20tema%20aeg_ettekannete%20teesid_0.pdf https://www.uttv.ee/naita?id=30811