• FTGEN - система генерирования функциональных тестовUbar, Raimund-Johannes; Dušina, Julia; Zaugarov, Viktor; Крупнова Е.; Storožev, SergeiProceedings of CAD-93 : new information technologies for science, education and business, Yalta, May 4-13, 19931993 / p. 123-125
• Functional test program generation for digital systemsUbar, Raimund-Johannes; Dušina, Julia; Krupnova, Helena; Storožev, Sergei; Zaugarov, ViktorTestmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen : proceedings of the 6th workshop, Vaals (Niederlande), March 6-8, 19941994 / p. 14-18: ill
• State assignment for CMOS implementation of low power FSM networksZaugarov, Viktor; Kasirova, Lilia; Tveretina, OlgaMixed Design of Integrated Circuits and Systems : education of computer aided design of modern ICs and devices : 3rd Advanced Training Course, Lodz, Poland, 30 May - 1 June 19961996 / p. 195-198: ill
• Symbolic test generation for hierarchically modeled digital systemsZaugarov, Viktor1993 https://www.ester.ee/record=b2090336*est
• Декомпозиционный метод представления объектов диагностирования моделями обобщенных альтернативных графовZaugarov, ViktorTallinna Tehnikaülikooli Toimetised1990 / lk. 98-102: ill
• Система генерирования тестов для микропроцессоровUbar, Raimund-Johannes; Dušina, Julia; Zaugarov, Viktor; Крупнова Е.; Storožev, SergeiProceedings of international conference "Technical Diagnostics-93", St.-Peterburg, June 8-10, 19931993 / p. 87-89
• Система синтеза тестовых программ для дискретных объектов диагностирования (ОД)Zaugarov, Viktor; Saarepera, Maimu; Storožev, SergeiTallinna Tehnikaülikooli Toimetised1990 / lk. 78-89: ill