• Влияние механических напряжений на поверхностную и объемную проводимости некоторых диэлектриковBender, Villem; Veimer, Vladimir; Mere, Arvo; Roninson, Aleksander; Silas, AarneЭлектрофизические свойства полупроводниковых и диэлектрических материалов1986 / с. 65-72
• Изменение интенсивности рентгенолюминесценции в процессе окрашивания содалитовRuus, TõnuЭлектрофизические свойства полупроводниковых и диэлектрических материалов1986 / с. 31-37
• Изменение параметров интегральных схем при анализе в растровом электронном микроскопеMeiler, BorissЭлектрофизические свойства полупроводниковых и диэлектрических материалов1986 / с. 85-92 https://www.ester.ee/record=b1296001*est
• Измерение СВЧ фотопроводимости в материалах с высокой проводимостьюVallaste, Heikki; Mellikov, Enn; Tuvike, Tiit; Palmre, ÕieЭлектрофизические свойства полупроводниковых и диэлектрических материалов1986 / с. 57-63
• Исследование миграции примеси меди в монокристаллах сульфида кадмияAarna, Heiti; Reiter, ErikЭлектрофизические свойства полупроводниковых и диэлектрических материалов1986 / с. 43-48
• Перераспределение вещества в поле внешних силAarna, Heiti; Mankin, Romi; Reiter, ErikЭлектрофизические свойства полупроводниковых и диэлектрических материалов1986 / с. 39-41
• Применение в ТПИ растворного электронного микроскопа в материаловеденииPaat, AaduЭлектрофизические свойства полупроводниковых и диэлектрических материалов1986 / с. 79-84
• Природа красной полосы люминесценции в CdS : Ag : ClKrustok, Jüri; Mädasson, Jaan; Altosaar, MareЭлектрофизические свойства полупроводниковых и диэлектрических материалов1986 / с. 23-30
• Установка для многократного анодного окисления полупроводниковGavrilov, AlekseiЭлектрофизические свойства полупроводниковых и диэлектрических материалов1986 / с. 73-78
• Физико-химический анализ несовершенных полупроводниковых кристалловKukk, Peeter-EnnЭлектрофизические свойства полупроводниковых и диэлектрических материалов1986 / с. 3-22
• Электрофизические свойства тонкопленочных барьеров шоттки на основе сульфида кадмия, изготовленного методом химической пульверизацииKrunks, Malle; Mellikov, Enn; Seilenthal, MatsЭлектрофизические свойства полупроводниковых и диэлектрических материалов1986 / с. 49-55