• Comparative ellipsometric and ion beam analytical studies on ion beam crystallized silicon implanted with Zn and Pb ionsLohner, Tivador; Angelov, Christo; Mikli, ValdekThin solid films2008 / 22, p. 8009-8012 https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0040609008003660
• О возможностях аппроксимации эллипсаTalvik, I.XXVI студенческая научно-техническая конференция вузов Молдавской ССР, Белорусской ССР и Прибалтийских республик, 21-23 апреля 1982 года : тезисы докладов. Часть 2, Химия и технология, механика, строительство1982 / с. 281 https://www.ester.ee/record=b5165223*est