• Design-aid programs for LSI integrated circuitsTarnay, K.; Szekely, V.; Baji, P.; Farkas, G.; Masszi, F.; Kerecsen-Rencz, M.Проблемы моделирования и измерения в электронике1986 / p. 3-11 : ill https://www.ester.ee/record=b1296007*est https://digikogu.taltech.ee/et/Item/64e07163-768d-4bad-9e1a-b884d02903d5