• A new measure for calculating multiple fault coverage of microprocessor self-testOyeniran, Adeboye Stephen; Odozi, Uzochukwu Eddie; Ubar, Raimund-JohannesBEC 2016 : 2016 15th Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 15th Biennial Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology, October 3-5, 2016, Tallinn, Estonia2016 / p. 75-78 : ill http://www.ester.ee/record=b2150914*est
  • An automatic test generation system for microprocessor VLSIKont, ToomasМашинное проектирование электронных устройств и систем1989 / p. 104-113
  • Applications of modern DSP processorsKalinina, TatjanaRaadiotehnika 2001 : VIII rahvusvahelise telekommunikatsioonipäeva materjalid2001 / lk. 84-89 : ill
  • Asünkroonsed protsessidToomsalu, ArvoA & A2003 / 1, lk. 7-23 : ill https://artiklid.elnet.ee/record=b1011904*est
  • Automated software-based in-field self-test program synthesisJasnetski, Artjom; Ubar, Raimund-Johannes; Tšertov, AntonInternational journal of microelectronics and computer science2017 / p. 57-64 : ill
  • Automated software-based self-test generation for microprocessorsJasnetski, Artjom; Ubar, Raimund-Johannes; Tšertov, AntonProceedings of the 24st International Conference Mixed Design of Integrated Circuits and Systems : MIXDES 2017 : Bydgoszcz, Poland, June 19-21, 20142017 / p. 453-458 : ill https://doi.org/10.23919/MIXDES.2017.8005252
  • Automation of testing beyond the SoCsTšertov, Anton; Jutman, Artur; Devadze, SergeiInfo- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK neljanda aastakonverentsi artiklite kogumik : 26.-27. novembril 2010, Essu mõis2010 / lk. 29-32 : ill
  • Combined pseudo-exhaustive and deterministic testing of array multipliersOyeniran, Adeboye Stephen; Azad, Siavoosh Payandeh; Ubar, Raimund-Johannes2018 IEEE International Conference on Automation, Quality and Testing, Robotics (AQTR) : THETA 21st edition, 24th-26th May, Cluj-Napoca, Romania : proceedings2018 / 6 p. : ill https://doi.org/10.1109/AQTR.2018.8402708
  • Control intensive digital system synthesisTammemäe, Kalle1997 http://www.ester.ee/record=b1060033*est
  • Control system development environment with MatLAB SIMULINK real time workshopLehtla, MadisBaltic electrical engineering review1998 / 1, p. 21-24: ill
  • Defects, faults and fault modelsGramatova, Elena; Fisherova, Maria; Ubar, Raimund-Johannes; Pleskacz, Witold A.Handbook of testing electronic systems2005 / p. 26-96 : ill
  • Development of a power electronics controller with RISC-V based core for security-critical applicationsSwakath, S. U.; Kshirsagar, Abhijit; Kondepu, Koteswararao; Banavath, Satish Naik; Chub, Andrii; Vinnikov, Dmitri2022 IEEE 63th International Scientific Conference on Power and Electrical Engineering of Riga Technical University (RTUCON): conference proceedings2022 / p. 1-5 https://doi.org/10.1109/RTUCON56726.2022.9978737
  • A DFT scheme to improve coverage of hard-to-detect faults in FinFET SRAMsCardoso Medeiros, Guilherme; Gürsoy, Cemil Cem; Fieback, Moritz; Wu, Lizhou; Jenihhin, Maksim; Taouil, Mottaqiallah; Hamdioui, Said2020 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 9-13 March 2020, Grenoble, France : proceedings2020 / p. 792-797 https://doi.org/10.23919/DATE48585.2020.9116278
  • Diagnostic modeling of microprocessors with high-level decision diagramsUbar, Raimund-Johannes; Raik, Jaan; Jutman, Artur; Jenihhin, Maksim; Brik, Marina; Istenberg, Martin; Wuttke, Heinz-DietrichBEC 2008 : 2008 International Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 11th Biennial Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology : October 6-8, 2008, Tallinn, Estonia2008 / p. 147-150 : ill
  • Dünaamiliselt rekonfigureeritava struktuuriga mikroprotsessorToomsalu, ArvoA & A2004 / 6, lk. 8-13 : ill
  • EPIC (IA-64)-arhitektuuristToomsalu, ArvoA & A1998 / 6, lk. 7-14: ill
  • Epsoni asünkroonne mikroprotsessorToomsalu, ArvoA & A2005 / 2, lk. 66-67
  • Experimental study of ultrasonic microprocessor - based heat metersRagauskas, A.; Pamakstis, V.BEC : Baltic Electronics Conference : proceedings of the 4th Biennial Conference, October 9-14, 1994, Tallinn (Estonia). 11994 / p. 141-145: ill
  • Hardware and software of the IGBT power converterLehtla, MadisActual Problems of Electrical Drives and Industry Automation : the research symposium of young scientists : Tallinn, Estonia, May 31 - June 5, 19991999 / p. 67-70: ill
  • Hardware trojan insertion in finalized layouts : from methodology to a silicon demonstrationPerez, Tiago Diadami; Pagliarini, Samuel NascimentoIEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems2023 / p. 2094-2107 https://doi.org/10.1109/TCAD.2022.3223846 https://www.scopus.com/sourceid/27724 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85144011739&origin=resultslist&sort=plf-f&src=s&sid=f6bea21f940b112407e8b3b930cd5a56&sot=b&sdt=b&s=DOI%2810.1109%2FTCAD.2022.3223846%29&sl=141&sessionSearchId=f6bea21f940b112407e8b3b930cd5a56 https://jcr.clarivate.com/jcr-jp/journal-profile?journal=IEEE%20T%20COMPUT%20AID%20D&year=2022 https://www.webofscience.com/wos/woscc/full-record/WOS:001017411600002
  • High-Level Combined Deterministic and Pseudo-exhuastive Test Generation for RISC ProcessorsOyeniran, Adeboye Stephen; Ubar, Raimund-Johannes; Jenihhin, Maksim; Raik, Jaan2019 IEEE European Test Symposium (ETS) : ETS 2019, May 27-31, 2019, Baden-Baden, Germany : Proceedings2019 / 6 p. : ill https://doi.org/10.1109/ETS.2019.8791526
  • High-level combined deterministic and pseudo-exhuastive test generation for RISC processorsOyeniran, Adeboye Stephen; Ubar, Raimund-Johannes; Jenihhin, Maksim; Gürsoy, Cemil Cem; Raik, Jaan2019 IEEE European Test Symposium (ETS) : proceedings2019 / 6 p. : ill https://doi.org/10.1109/ETS.2019.8791526
  • High-level fault diagnosis in RISC processors with Implementation-Independent Functional TestOyeniran, Adeboye Stephen; Jenihhin, Maksim; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-Johannes2022 IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI (ISVLSI) : Nicosia, Cyprus : 04-06 July 20222022 / p. 32-37 https://doi.org/10.1109/ISVLSI54635.2022.00019
  • High-level functional test generation for microprocessor modulesOyeniran, Adeboye Stephen; Ubar, Raimund-JohannesProceedings of 26th International Conference Mixed Design of Integrated Circuits and Systems : MIXDES 2019 : Rzeszów, Poland, June 27 - 29, 20192019 / p. 356-361 : ill https://doi.org/10.23919/MIXDES.2019.8787131
  • High-level implementation-independent software-based self-test for RISC type microprocessors = Mikroprotsessorite tarkvarapõhine implementatsioonist mittesõltuv funktsionaalne enesekontrollOyeniran, Adeboye Stephen2020 https://digikogu.taltech.ee/et/Item/08a75fbb-3f71-4fe4-b3d0-3f37a9a5f36d
  • High-level modeling and testing of multiple control faults in digital systemsJasnetski, Artjom; Oyeniran, Adeboye Stephen; Tšertov, Anton; Schölzel, Mario; Ubar, Raimund-JohannesFormal proceedings of the 2016 IEEE 19th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS) : April 20-22, 2016, Košice, Slovakia2016 / [6] p. : ill http://dx.doi.org/10.1109/DDECS.2016.7482445
  • High-level test data generation for software based self-test in microprocessorsOyeniran, Adeboye Stephen; Jasnetski, Artjom; Tšertov, Anton; Ubar, Raimund-Johannes2017 6th Mediterranean Conference on Embedded Computing (MECO) : including ECYPS'2017 : proceedings : research monograph : Bar, Montenegro, June 11th-15th, 20172017 / p. 86-91 : ill https://doi.org/10.1109/MECO.2017.7977167
  • Implementation-independent functional test for transition delay faults in microprocessorsOyeniran, Adeboye Stephen; Ubar, Raimund-Johannes; Jenihhin, Maksim; Raik, Jaan2020 23rd Euromicro Conference on Digital System Design (DSD), 26-28 August 2020, Kranj, Slovenia2020 / p. 646-650 https://doi.org/10.1109/DSD51259.2020.00105
  • Implementation-independent functional test generation for RISC microprocessorsOyeniran, Adeboye Stephen; Ubar, Raimund-Johannes; Jenihhin, Maksim; Raik, JaanVLSI-SoC 2019 : 27th IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration : [proceedings]2019 / p. 82-87 : ill https://doi.org/10.1109/VLSI-SoC.2019.8920323
  • Importance of distributing complexity in microprocessor systemsAriste, AndriProceedings of the Symposium on microcomputer and microprocessor application, Budapest, 17-19 October, 19791979 / p. [235-244]
  • In-system programming of non-volatile memories on microprocessor-centric boardsTšertov, Anton; Devadze, Sergei; Jutman, Artur; Jasnetski, ArtjomInternational journal of microelectronics and computer science2014 / p. 25-34 : ill
  • Itanium : [serverid ja tööjaamad 64bitise protsessori Itanium baasil]Leis, PaulA & A2001 / 3, lk. 3-4
  • Kergrööbassõidukite ajamid ja juhtimineLaugis, Juhan; Lehtla, Tõnu; Joller, Jüri; Rosin, Argo; Vinnikov, Dmitri; Lehtla, Madis2008 http://www.ester.ee/record=b2394445*est
  • Kes oli esimese mikroprotsessori looja?Toomsalu, ArvoA & A1999 / 2, lk. 8-11
  • Kognitiivelektroonika on elektroonika tulevikMaidla, MargusSirp2016 / lk. 34-35 : fot http://www.sirp.ee/s1-artiklid/c21-teadus/kognitiivelektroonika-on-elektroonika-tulevik/
  • Käsukonveierite spikkerToomsalu, ArvoArvutustehnika ja Andmetöötlus1997 / 1, lk. 15-20: ill
  • Laboratory framework TEAM for investigating the dependability issues of microprocessor systemsJasnetski, Artjom; Tšertov, Anton; Ubar, Raimund-Johannes; Kruus, Helena10th European Workshop on Microelectronics Education : EWME 2014 : May 14-16, 2014, Tallinn, Estonia2014 / p. 80-83 : ill
  • Logic IP for low-cost IC design in advanced CMOS nodesIsgenc, Mehmet Meric; Martins, Mayler G.A.; Zackriya, V. Mohammed; Pagliarini, Samuel Nascimento; Pileggi, LarryIEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems2020 / p. 585-595 https://doi.org//10.1109/TVLSI.2019.2942825
  • Medium-voltage frequency converters microprocessor control systemMälter, Meelis; Joller, JüriActual Problems of Electrical Drives and Industry Automation : the research symposium of young scientists : Tallinn, Estonia, May 31 - June 5, 19991999 / p. 63-66: ill
  • Microprocessor based traction control system and diagnostic algorithms for the traction drive TVM1Lehtla, MadisSymposium "Topical Problems of Education in the Field of Electrical and Power Engineering" : Kuressaare, Estonia, January 19-24, 20042004 / p. 58-61 : ill
  • Microprocessor control systems of light rail vehicle traction drivesLehtla, Madis2006 https://www.ester.ee/record=b2170586*est
  • Microprocessor modeling for board level test access automationDevadze, Sergei; Jutman, Artur; Tšertov, Anton; Ubar, Raimund-JohannesProceedings of 10th IEEE Workshop on RTL and High Level Testing : Hong Kong, November 27-28, 20092009 / ? p
  • Microprocessor-based system test using debug interfaceDevadze, Sergei; Jutman, Artur; Tšertov, Anton; Instenberg, Martin; Ubar, Raimund-Johannes26th Norchip Conference : Tallinn, Estonia, 17-18 November 2008 : formal proceedings2008 / p. 98-101 : ill http://dx.doi.org/10.1109/NORCHP.2008.4738291
  • Microprocessors and microsystems : MICPRO : embedded hardware design2010
  • Mikroarvutid automaatikasAriste, Andri; Lind, H.; Mõtus, Leo; Tani, H.1984 https://www.ester.ee/record=b1245439*est
  • Mikrokontrollerpere PIC 16C5xToomsalu, ArvoArvutustehnika ja Andmetöötlus1997 / 3, lk. 7-11; 4, lk. 7-13: ill
  • Mikroprozessorsystem zur Steuerung über zweimotorigen ElektroantriebesLaugis, Juhan; Pettai, Elmo; Oorn, Hillar10. Internationale Fachtagung Industrielle Automatisierung - Automatisierte Antriebe : 14. Februar bis 16. Februar 1989 in Karl-Marx-Stadt1989 / S. 72-75
  • Mikroprotsessor Tehnikaülikoolist transistori 50. sünnipäevaksUbar, Raimund-JohannesHorisont1997 / 8, lk. 10-11: ill https://artiklid.elnet.ee/record=b2325971*est
  • Mikroprotsessori ajaloostToomsalu, ArvoArvutimaailm1995 / 1, lk. 38-40; 2, lk. 28-30 : ill
  • Mikroprotsessori K580 käsustik koos kasutamisjuhisega : abimaterjal laboratoorsete tööde sooritamiseks1988 https://www.ester.ee/record=b1232546*est
  • Mikroprotsessori K580 käsustik koos kasutamisjuhistega : abimaterjal laboratoorsete tööde sooritamiseks1990 https://www.ester.ee/record=b1250156*est
  • Mikroprotsessorite kasutamisest elektrisüsteemide kateedri õppelaboratooriumitesLelumees, Heino; Tammoja, HeikiArvutite ja tehniliste vahendite kasutamine õppetöös : TPI 50. aastapäevale pühendatud teaduslik-metoodilise konverentsi, 26.-27. märtsil : ettekannete teesid1986 / lk. 77-78 https://www.ester.ee/record=b1206593*est
  • Mikroprotsessorsüsteemid : kursuseprojekti juhendmaterjalToomsalu, Arvo1998 https://www.ester.ee/record=b1061287*est
  • Mikroprotsessorsüsteemid : kursuseprojekti metoodiline juhendToomsalu, Arvo1996 https://www.ester.ee/record=b1619347*est
  • Mikroprotsessorsüsteemide programmeerimineMärtin, Kaarel; Mõtus, LeoTehnika ja Tootmine1985 / lk. 11-13 https://www.ester.ee/record=b1073047*est
  • Mikroprotsessorsüsteemide projekteerimine : laboratoorsete tööde juhend1992 https://www.ester.ee/record=b1061875*est
  • MikroprotsessortehnikaLehtla, Tõnu; Kulmar, Lembit1995 https://www.ester.ee/record=b1054894*est
  • Mikroprotsessortehnika ja tehniline progressKeevallik, AndresRahva Hääl1984 / lk. [?] https://www.ester.ee/record=b1072826*est
  • Minimization of the high-level fault model for microprocessor control parts [Online resource]Ubar, Raimund-Johannes; Oyeniran, Adeboye Stephen; Medaiyese, OlusijiBEC 2018 : 2018 16th Biennial Baltic Electronics Conference (BEC) : proceedings of the 16th Biennial Baltic Electronics Conference, October 8-10, 20182018 / 4 p.: ill https://doi.org/10.1109/BEC.2018.8600980
  • Mixed-level identification of fault redundancy in microprocessorsOyeniran, Adeboye Stephen; Ubar, Raimund-Johannes; Jenihhin, Maksim; Gürsoy, Cemil Cem; Raik, JaanLATS 2019 : 20th IEEE Latin American Test Symposium : Santiago, Chile, March 11th - 13th 20192019 / 6 p. : ill https://doi.org/10.1109/LATW.2019.8704591
  • ML-based online design error localization for RISC-V implementationsSelg, Hardi; Jenihhin, Maksim; Ellervee, Peeter; Raik, Jaan2023 IEEE 29th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS) : IOLTS 2023 : July 3rd-5th, 2023, Platanias, Chania (Crete), Greece : proceedings2023 / 7 p. https://doi.org/10.1109/IOLTS59296.2023.10224864
  • Modeling microprocessor faults on high-level decision diagrams [Electronic resource]Ubar, Raimund-Johannes; Raik, Jaan; Jutman, Artur; Jenihhin, Maksim; Istenberg, Martin; Wuttke, Heinz-DietrichDSN 2008 : supplemental : 2008 IEEE International Conference on Dependable Systems & Networks With FTCS & DCC (DSN) : June 24-27, 2008, Anchorage, Alaska2008 / p. C17-C22 : ill. [CD-ROM] https://webhost.laas.fr/TSF/WDSN08/2ndWDSN08(LAAS)_files/Slides/WDSN08S-04-Ubar.pdf
  • Modular approach to training hardware design for modular teaching [Electronic resource]Galkin, Ilja; Laugis, JuhanEPE-PEMC 2006 : 12th International Power Electronics and Motion Control Conference : Portorož, Slovenia, August 30 - September 1, 2006 : proceedings2006 / p. 1715-1720 : ill. [CD-ROM] https://ieeexplore.ieee.org/document/4778652
  • MSP430 as an introductory training microcontrollerGalkin, Ilja2nd International Symposium "Topical Problems of Education in the Field of Electrical and Power Engineering" : Kuressaare, Estonia, January 17-22, 20052005 / p. 123-126
  • Muutused protsessorite ja PC-de võitlustandrilTammemäe, KalleA & A1999 / 3, lk. 7-14: ill https://artiklid.elnet.ee/record=b1001307*est
  • NeuroPIM: felxible neural accelerator for processing-in-memory architecturesBidgoli, Ali Monavari; Fattahi, Sepideh; Rezaei, Seyyed Hossein Seyyedaghaei; Modarressi, Mehdi; Daneshtalab, Masoud2023 26th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS) : May 3-5, 2023, Tallin, Estonia : proceedings2023 / p. 51-56 https://doi.org/10.1109/DDECS57882.2023.10139567
  • New fault models and self-test generation for microprocessors using High-Level Decision DiagramsJasnetski, Artjom; Raik, Jaan; Tšertov, Anton; Ubar, Raimund-Johannes2015 IEEE 18th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems DDECS 2015 : 22-24 April 2015, Belgrade, Serbia : proceedings2015 / p. 251-254 : ill
  • On automatic software-based self-test program generation based on high-Level decision diagramsJasnetski, Artjom; Ubar, Raimund-Johannes; Tšertov, AntonLATS 2016 : 17th IEEE Latin-American Test Symposium, Foz do Iguacu, Brazil, 6th-9th April 20162016 / p. 177 http://dx.doi.org/10.1109/LATW.2016.7483357
  • On test generation for microprocessors for extended class of functional faultsOyeniran, Adeboye Stephen; Ubar, Raimund-Johannes; Jenihhin, Maksim; Raik, JaanVLSI-SoC: New technology enabler : 27th IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2019 Cusco, Peru, October 6–9, 2019 : Revised and Extended Selected Papers2020 / p. 21-44 https://doi.org/10.1007/978-3-030-53273-4 https://www.scopus.com/sourceid/19400157163 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85089210353&origin=inward&txGid=d04ed701b074b0e8cf52e648bbb652e8
  • Operatsioon CRUSHToomsalu, ArvoArvutustehnika ja Andmetöötlus1997 / 9, lk. 11-13; 10, lk. 3-6
  • Orgaaniline mikroprotsessorToomsalu, ArvoA & A2011 / lk. 18-21 : ill
  • Parallel pseudo-exhaustive testing of array multipliers with data-controlled segmentationOyeniran, Adeboye Stephen; Azad, Siavoosh Payandeh; Ubar, Raimund-Johannes2018 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS) : 27-30 May 2018, Florence, Italy : proceedings2018 / 5 p.: ill https://doi.org/10.1109/ISCAS.2018.8350936 https://www.scopus.com/sourceid/56190 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85057101928&origin=inward&txGid=49e361500f6fe5902264fae2d90ceb95 https://www.webofscience.com/wos/woscc/full-record/WOS:000451218700050
  • Personaalarvutid mikroprotsessoril 80486. Sise- ja välisseadmete liidesed, matemaatikaprotsessorid, jõudlustestidToomsalu, Arvo1992 https://www.ester.ee/record=b1064225*est
  • PIC microcontroller learning systemJalakas, Tanel; Möller, Taavi; Roasto, Indrek3rd International Symposium "Topical Problems of Education in the Field of Electrical and Power Engineering" : Doctoral School of Energy and Geotechnology : Kuressaare, Estonia, January 16-21, 20062006 / p. 99-101 : ill
  • PingviiniprotsessorTammemäe, KalleA & A1999 / 6, lk. 8-11 https://artiklid.elnet.ee/record=b1002707*est
  • Post-RISC-arhitektuurToomsalu, ArvoA & A2001 / 2, lk. 8-14 ; 3, lk. 7-16 https://artiklid.elnet.ee/record=b1006602*est
  • Power-performance trade-offs in second level memory used by an ARM-like Risc architecturePuttaswamy, Kiran; Ellervee, PeeterPower aware computing2002 / ? p. [chapter 11] https://link.springer.com/chapter/10.1007/978-1-4757-6217-4_11
  • PrefaceHollstein, Thomas; Raik, Jaan; Kostin, Sergei; Tšertov, Anton; O’Connor, Ian; Reis, RicardoVLSI-SoC: System-on-Chip in the Nanoscale Era – Design, Verification and Reliability, 24th IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2016, Tallinn, Estonia, September 26-28, 2016 : Revised Selected Papers2017 / p. V-VI https://link.springer.com/book/10.1007/978-3-319-67104-8 https://www.scopus.com/sourceid/19400157163 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85029519418&origin=inward&txGid=d15d78fac69c895336e4a051ac8bafb2
  • Protsessor mälusToomsalu, ArvoA & A2001 / 4, lk. 9-16 https://artiklid.elnet.ee/record=b1007646*est
  • RISC-arhitektuuri arengusuundade peegeldusi mikroprotsessoris R10000Toomsalu, ArvoArvutustehnika ja Andmetöötlus1996 / 7, lk. 14-19; 8, lk. 16-22; 9, lk. 2-9
  • RISC-mikroprotsessorid reaalajasüsteemidesToomsalu, ArvoArvutustehnika ja Andmetöötlus1994 / 10, lk. 2-5 ; 11, lk. 2-6
  • RISC-mikroprotsessorite arhitektuurToomsalu, Arvo1995 https://www.ester.ee/record=b1069536*est
  • Runtime contention and bandwidth-aware adaptive routing selection strategies for networks-on-chipSamman, Faizal; Hollstein, Thomas; Glesner, ManfredIEEE transactions on parallel and distributed systems2013 / p. 1411-1421 : ill https://doi.org/10.1109/TPDS.2012.200 https://www.scopus.com/sourceid/26098 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-84878507813&origin=resultslist&sort=plf-f&src=s&sot=b&sdt=b&s=DOI%2810.1109%2FTPDS.2012.200%29&sessionSearchId=9818deb15b20d94fb8a289164cea8fa8&relpos=0 https://jcr.clarivate.com/jcr-jp/journal-profile?journal=IEEE%20T%20PARALL%20DISTR&year=2013 https://www.webofscience.com/wos/woscc/full-record/WOS:000319678800014
  • Software-based self-test for microprocessors with high-level decision diagrams = Mikroprotsessorite tarkvara-põhine enesetestimine kõrgtasandi otsustusdiagrammide põhjalJasnetski, Artjom2018 https://digi.lib.ttu.ee/i/?10629 https://www.ester.ee/record=b5151486*est
  • Software-based self-test generation for microprocessors with high-level decision diagramsJasnetski, Artjom; Ubar, Raimund-Johannes; Tšertov, Anton; Brik, MarinaProceedings of the Estonian Academy of Sciences2014 / p. 48-61 : ill https://artiklid.elnet.ee/record=b2665215*est https://doi.org/10.3176/proc.2014.1.08 https://www.scopus.com/sourceid/11500153303 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-84896037171&origin=inward&txGid=7473dadb0a18cc135d0d2cd39937c21d https://jcr.clarivate.com/jcr-jp/journal-profile?journal=P%20EST%20ACAD%20SCI&year=2014 https://www.webofscience.com/wos/woscc/full-record/WOS:000333322100008
  • Software-based self-test generation for microprocessors with high-level decision diagramsUbar, Raimund-Johannes; Tšertov, Anton; Jasnetski, Artjom; Brik, MarinaLATW2014 : 15th IEEE Latin-American Test Workshop : Fortaleza, Brazil, March 12th-15th, 20142014 / [6] p. : ill
  • Software-based self-test with decision diagrams for microprocessorsUbar, Raimund-Johannes; Jasnetski, Artjom; Tšertov, Anton; Oyeniran, Adeboye Stephen2018
  • SPARC-V8- ja V9-arhitektuuriga mikroprotsessoridToomsalu, ArvoArvutustehnika ja Andmetöötlus1995 / 7, lk. 14-23: ill
  • SPEC92 jõudlustesti vahetab välja SPEC95Toomsalu, ArvoArvutustehnika ja Andmetöötlus1996 / 2, lk. 6-8
  • Special session: in-field ML-assisted intermittent fault localization and management in RISC-V SoCsSelg, Hardi; Shibin, Konstantin; Tsertov, Anton; Jenihhin, Maksim; Ellervee, Peeter; Raik, Jaan2024 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)2024 https://doi.org/10.1109/DFT63277.2024.10753541 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85212426533&origin=resultslist&sort=plf-f&src=s&sot=b&sdt=b&s=DOI%2810.1109%2FDFT63277.2024.10753541%29&sessionSearchId=f890857a41c36254c0f644edbb3c2ac3&relpos=0
  • Stepper motor drive as a control object for teaching microprocessor control of electrical drivesKährik, Rainer; Lehtla, Madis6th International Symposium "Topical Problems in the Field of Electrical and Power Engineering" : Doctoral School of Energy and Geotechnology : [Kuressaare, January 12-17, 2009]2009 / p. 140-143 : ill
  • SuperH-arhitektuuriga protsessortuum kiipsüsteemideleToomsalu, ArvoA & A2001 / 1, lk. 11-18 : ill https://artiklid.elnet.ee/record=b1006239*est
  • Z-RAM-mäluToomsalu, ArvoA & A2008 / 3, lk. 10-19 https://artiklid.elnet.ee/record=b1022321*est
  • Teaching digital system testOyeniran, Adeboye Stephen; Ubar, Raimund-Johannes; Kruus, MargusThe 27th EAEEIE Annual Conference : June 7-9, 2017, Grenoble2017 / [6] p
  • Test generation for microprocessor control mechanismsLohuaru, Tõnu; Ubar, Raimund-JohannesFTSD-10 : Deseta Mezdunarodnaja Konferencija "Nadezdnost i Diagnostika na ECM. Mikrokompjutri i Sistemi", Varna, Bulgaria, 1987 = 10th International Conference on Fault-Tolerant Systems and Diagnostics (1987)1987 / p. 305-311
  • Test generation for microprocessors on alternative graphsAlango, Villem; Kont, Toomas; Ubar, Raimund-Johannes33. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium : 24.-28.10.1988. H.3 Vortragsreihe B, technische und angewandte Informatik/Computertechnik1988 / p. 11-14
  • Test pattern generation for microprocessor systems on the alternative graph modelUbar, Raimund-JohannesProceedings of the 3rd Symposium of the IMEKO Technical Committee on Technical Diagnostics (TC10), held in Moscow, October 3 - 5, 19831985 / p. 403-410
  • Test program generation for microprocessor systemsDušina, Julia1993 https://www.ester.ee/record=b2090526*est
  • Test system for fault detection and diagnosis in microprocessor control devicesUbar, Raimund-Johannes; Lohuaru, Tõnu; Männisalu, Mati; Pukk, P.; Vanamölder, E.Tallinna Tehnikaülikooli Toimetised1990 / lk. 63-77: ill
  • Testentwicklung für Mikroprozessorsystem mit Hilfe der alternativen GraphenAlango, Villem; Kont, Toomas; Ubar, Raimund-Johannes33. Internationales wissenschaftliches Kolloquium : 24.-28.10.1988. H.1.1988 / S- 11-14 https://www.ester.ee/record=b2936968*est
  • 3D finite element modelling of mixing phenomena in droplet-based microfluidic systems
    Szomor, Zsombo; Gyimah, Nafisat; Fürjes, Peter; Pardy, Tamas2024 19th Biennial Baltic Electronics Conference (BEC)2024 / 4 p https://doi.org/10.1109/BEC61458.2024.10737975 https://www.scopus.com/sourceid/21100228125 https://www.scopus.com/pages/publications/85210559027?inward https://www.webofscience.com/wos/woscc/full-record/WOS:001411745600027
  • Traction and control of light rail vehiclesLaugis, Juhan; Lehtla, Tõnu; Joller, Jüri; Rosin, Argo; Vinnikov, Dmitri; Lehtla, Madis2008 http://www.ester.ee/record=b2394449*est
  • Transmeta protsessorite niššTammemäe, KalleA & A2000 / 3, lk. 7-13 : ill https://artiklid.elnet.ee/record=b1004180*est
  • TranspuutridToomsalu, ArvoArvutustehnika ja Andmetöötlus1997 / 4, lk. 14-16; 5, lk. 7-11; 6, lk. 6-9; 7/8, lk. 1-6: ill
  • Unustusehõlma vajunud mikroprotsessorid 4005 ja MF7114Toomsalu, ArvoA & A2011 / lk. 8-17 : ill
  • Valuroboti mikroprotsessorjuhtimisega manipulaatori uurimine : elektriseadmed : magistritööKulmar, Lembit1992 https://www.ester.ee/record=b2630339*est
  • Автоматизированное построение программ самодиагностики микропроцессоровStorožev, SergeiTallinna Tehnikaülikooli Toimetised1990 / lk. 90-97: ill
  • Анализ методов тестирования микропроцессоровToomsalu, ArvoСинтез и диагностика цифровых устройств и систем1982 / с. 53-62 : илл https://www.ester.ee/record=b1328194*est https://digikogu.taltech.ee/et/Item/febd586e-d7fa-4fbd-bf41-40576a75f94b
  • Анализатор кислорода с микропроцессоромOts, Avo; Jäetma, Teet; Marvet, ReinЭлектрохимические средства анализа и охрана окружающей среды : тезисы докладов всесоюзной конференции, 25-27 июня 1989 г1989 / с. 111-113 : илл https://www.ester.ee/record=b1208856*est
  • Влияние микропроцессора на чувствительность векторвольтметровLogunov, Gennadi; Sillamaa, HannoТезисы докладов Республиканской научно-технической конференции, посвященной Дню радио, октябрь 1983. Секция "Микропроцессорная техника"1983 / с. 8-10 https://www.ester.ee/record=b1295287*est
  • Выбор структуры микропроцессорной системы для векторного вольтметраLogunov, Gennadi; Roi, MihhailВопросы теории и проектирования электронных вольтметров и средств их проверки : тезисы докладов республиканской научно-технической конференции, [17-18 сентября 1985 года, Таллин]1985 / с. 64-65 https://www.ester.ee/record=b1255402*est
  • Генерирование и преобразование сигналов на микропроцессореTrump, TõnuXXVII студенческая научно-техническая конференция вузов Прибалтийских республик, Белорусской ССР и Молдавской ССР, 19-21 апреля 1983 г : тезисы докладов. Часть 21983 / с. 20 https://www.ester.ee/record=b1571566*est
  • Генерирование операндов при синтезе тестов для микропроцессоровToomsalu, Arvo; Ubar, Raimund-JohannesСинтез и диагностика цифровых устройств и систем1982 / с. 63-73 : илл https://www.ester.ee/record=b1328194*est https://digikogu.taltech.ee/et/Item/febd586e-d7fa-4fbd-bf41-40576a75f94b
  • Генерирование тестов для микропроцессорных БИСViilup, Agu; Evartson, TeetРасчет и проектирование систем технической кибернетики1983 / с. 121-129 : ил https://www.ester.ee/record=b1288991*est https://digikogu.taltech.ee/et/Item/7d7515af-76b7-4d35-89a7-e80367d5b635
  • Генерирование тестов для микропроцессорных системAasma, M.; Kõlamets, A.XXVII студенческая научно-техническая конференция вузов Прибалтийских республик, Белорусской ССР и Молдавской ССР, 19-21 апреля 1983 г : тезисы докладов. Часть 21983 / с. 14 https://www.ester.ee/record=b1571566*est
  • Генерирование тестов микропроцессорных систем на модели АГUbar, Raimund-JohannesТехническая диагностика : Тезисы докладов III Международного симпозиума ИМЕКО, Москва, окт. 19831983 / с. 100-103
  • Декомпозиционный синтез управляющих автоматов на программируемых матрицах и микропроцессорах : автореферат ... кандидата технических наук (05.13.01)Sudnitsõn, Aleksander1983 https://www.ester.ee/record=b1291157*est
  • Декомпозиционный синтез управляющих автоматов на программируемых матрицах и микропроцессорах : диссертация на соискание ученой степени кандидата кандидата технических наукSudnitsõn, Aleksander1983 https://www.ester.ee/record=b4634419*est
  • Декомпозиция микропрограммных автоматов на микропроцессорыKeevallik, Andres; Sudnitsõn, AleksanderСинтез управляющих устройств на основе микропроцессов и однородных сред : труды II всесоюзного семинара, Рязань, дек. 1979 г.1980 / с. 16-20 https://www.ester.ee/record=b2632002*est
  • Макет привода с векторным управлениемBoiko, VitaliSymposium "Topical Problems of Education in the Field of Electrical and Power Engineering" : Kuressaare, Estonia, January 19-24, 20042004 / p. 66-68 : ill
  • Микропроцессорная система управления двухдвигательным магнитогидродинамическим приводомLaugis, Juhan; Oorn, Hillar; Oorn, ArvoПроблемы оптимизации работы автоматизированных электроприводов1986 / с. 135-136
  • Микропроцессорная система электропривода постоянного токаБлумберг Э.А.Тезисы докладов семинара "Новые разновидности электропривода и возможности их применения"1990 / с. 51-54: ил
  • Микропроцессорные системы : учебно-методическое пособие1983 https://www.ester.ee/record=b1241140*est
  • Микропроцессорный измеритель амплитуды и задержки перекрывающихся импульсовArro, Ilmar; Ots, Avo; Sullakatko, Toomas; Heinrichsen, VladimirТезисы докладов Республиканской научно-технической конференции, посвященной Дню радио. Секция "Системы реального времени"1980 https://www.ester.ee/record=b1304214*est
  • Микропроцессорный измеритель параметров гармонического сигналаOts, Avo; Trump, TõnuМетоды и устройства регистрации, передачи, обработки и представления информации1986 / с. 69-71
  • Микропроцессоры сегодня и завтра : [статьи]Keevallik, Andres; Leppik, K.; Kallas, E.Советская Эстония1985 / с. [?] https://www.ester.ee/record=b1447330*est
  • О синтезе тестов для микропроцессорных БИСLohuaru, Tõnu; Ubar, Raimund-JohannesПроектирование и диагностика вычислительных средств1987 / с. 30-42 : илл https://www.ester.ee/record=b1273275*est
  • Об автоматизации процедур синтеза тестов для дискретных систем на модели альтернативных графовGrigorjeva, Ksenja; Einasto, N.Машинное проектирование электронных устройств и систем1986 / с. 104-109
  • Обеспечение адаптивности векторного анализатора к свойствам входных сигналов при помощи встроенного микропроцессораMin, Mart; Ronk, Ants; Haldre, EeroВсесоюзная научно-техническая конференция «Проблемы развития аппаратных и программных средств вычислительной техники для машинного моделирования»: тезисы докладов1987 / с. 102
  • Один подход к автоматизации проектирования микропроцессорных систем дискретного управленияKeevallik, Andres; Berkman, Boriss; Sudnitsõn, AleksanderМикропроцессорные системы обработки информации и управления : тезисы докладов1987 / с. ?
  • Подход к автоматизации построения тестов для микропроцессорных БИСKont, ToomasМашинное проектирование электронных устройств и систем1988 / с. 55-64
  • Применение методов декомпозиции конечных автоматов для построения сетей микропроцессоровKeevallik, Andres; Sudnitsõn, AleksanderСинтез управляющих устройств на основе микропроцессов и однородных сред : труды II всесоюзного семинара, Рязань, дек. 1979 г.1980 / с. [?] https://www.ester.ee/record=b2632002*est
  • Применение микроконтроллера MSP430 в качестве тренировочного микропроцессорного устройстваGalkin, Ilja; Skarainis, M.; Laugis, Juhan; Lehtla, TõnuТехнiчна електродинамiка2005 / 2, с. 90-93 : ил
  • Применение микропроцессора 8085А в учебном процессеSiimar, VeikoТезисы докладов семинара "Новые направления научных исследований в области электромеханики"1991 / с. 46-47
  • Применение модели АГ для автоматизации синтеза тест-программ микропроцессорных БИСUbar, Raimund-JohannesЭлектронная техника. Серия 8, Управление качеством, стандардизация, метрология, испытания : научно-технический сборник1985 / с. 110-113 https://www.ester.ee/record=b2160764*est
  • Программная реализация элементарных функций микропроцессорной системой векторного вольтметраLogunov, Gennadi; Roi, MihhailВопросы теории и проектирования электронных вольтметров и средств их проверки : тезисы докладов республиканской научно-технической конференции, [17-18 сентября 1985 года, Таллин]1985 / с. 53-54 https://www.ester.ee/record=b1255402*est
  • Проектирование диагностических тестов для микропроцессорных БИС и системEinasto, N.; Ubar, Raimund-JohannesXXX студенческая научно-техническая конференция вузов Прибалтийских республик, Белорусской ССР и Молдавской ССР, 8-10 апреля 1986 года : тезисы докладов. Том II, Автоматика. Энергетика. Механика. Химия1986 / с. 40 https://www.ester.ee/record=b1305565*est
  • Распараллеливание и сетевые реализации конечно-автоматных алгоритмов управленияKeevallik, AndresПятая всесоюзная школа-семинар "Распараллеливание обработки информации" : тезисы доклады и сообщения1985 / с. 63-64
  • Синтез коммутаторов на основе ПЛМ для микропроцессоров, реализующих наборы крупных операцийBožitš, V.I.; Galujev, G.A.; Sudnitsõn, AleksanderСинтез и диагностика цифровых устройств и систем1982 / с. 85-91 : илл https://www.ester.ee/record=b1328194*est https://digikogu.taltech.ee/et/Item/febd586e-d7fa-4fbd-bf41-40576a75f94b
  • Синтез мультимикропроцессорных систем дискретного управленияKeevallik, Andres; Sudnitsõn, Aleksander; Berkman, BorissТезисы докладов Республиканской научно-технической конференции, посвященной Дню радио, октябрь 1983. Секция "Микропроцессорная техника"1983 / с. 10-12 https://www.ester.ee/record=b1295287*est
  • Система генерирования тестов для микропроцессоровUbar, Raimund-Johannes; Dušina, Julia; Zaugarov, Viktor; Крупнова Е.; Storožev, SergeiProceedings of international conference "Technical Diagnostics-93", St.-Peterburg, June 8-10, 19931993 / p. 87-89
  • Схема пошагового выполнения программ отладки микропроцессораLogunov, Gennadi; Roi, MihhailXXV студенческая научно-техническая конференция вузов Прибалтийских республик, Белорусской ССР и Молдавской ССР, 21-23 апреля 1981 года : тезисы докладов. Том 2, Автоматика. Энергетика. Механика. Химия1981 / с. 43-44 https://www.ester.ee/record=b1322629*est
  • Улучшение метрологических и эксплуатационных показателей векторвольтметров микропроцессорными модулямиLogunov, GennadiМетоды и средства обработки сигналов при наличии шумов1982 / с. 59-72 : ил https://www.ester.ee/record=b1312255*est https://www.etera.ee/zoom/121735/view?page=1&p=separate&search=true&tool=search
  • Улучшение технических показателей векторвольтметра ТВ5-85 с помощью встроенной микропроцессорной системыLogunov, Gennadi; Roi, MihhailВопросы теории и проектирования электронных вольтметров и средств их проверки : тезисы докладов республиканской научно-технической конференции, [17-18 сентября 1985 года, Таллин]1985 / с. 54 https://www.ester.ee/record=b1255402*est
  • Формальный синтез тестов для микропроцессоровToomsalu, Arvo; Ubar, Raimund-JohannesXVII областная научно-техническая конференция по вопросам повышения эффективности и качества систем и средств управления (май 1981 г.): Тезисы докладов1981 / с. 111-112
  • Формирование тест-программ для микропроцессорных БИС при автоматическом генерировании тестовAlango, Villem; Kont, Toomas; Ubar, Raimund-JohannesМашинное проектирование электронных устройств и систем1988 / с. 78-87