• Acoustic forward model for guided wave propagation and scattering in a pipe bendRasgado Moreno, Carlos Omar; Rist, Marek; Land, Raul; Ratassepp, MadisSensors2022 / art. 486 https://doi.org/10.3390/s22020486 https://www.scopus.com/sourceid/130124 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85122368343&origin=inward&txGid=96ee9f8db78386949345fe5c52db2e80 https://jcr.clarivate.com/jcr-jp/journal-profile?journal=SENSORS-BASEL&year=2022 https://www.webofscience.com/wos/woscc/full-record/WOS:000747485000001
• AI otsustab, kas esiklaas vajab vahetustKalda-Kiisk, Kaitrialoog2025 https://trialoog.taltech.ee/ai-otsustab-kas-esiklaas-vajab-vahetust/
• Analysis of causes of the end of service life of a spray polyurethane foam and polyurea roofKalamees, Targo; Ilomets, Simo; Põldaru, Mattias; Klõšeiko, Paul; Kallavus, Urve; Rosenberg, Margit; Õiger, KarlE3S Web of Conferences : 12th Nordic Symposium on Building Physics (NSB 2020) : Tallinn, Estonia, September 6-9, 20202020 / art. 15002, 6 p. : ill https://doi.org/10.1051/e3sconf/202017215002 https://www.scopus.com/sourceid/21100795900 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85088426500&origin=inward&txGid=16eda25fbb60c38b2bbc9cb0001ff8e7 https://www.webofscience.com/wos/woscc/full-record/WOS:000594033400141
• Analysis of defect tolerant crossbar network implementationsLeveugle, R.; Brahic, P.BEC'98 : the 6th Biennial Conference on Electronics and Microsystems Technology, October 7-9, 1998, Tallinn, Estonia : proceedings1998 / p. 37-40: ill
• Annealing of frozen-in defects in ZnONirk, Tiit; Lott, Kalju; Seeman, Viktor; Türn, Leo; Viljus, Mart; Öpik, AndresPhysica status solidi (c)2016 / p. 590-593 : ill https://doi.org/10.1002/pssc.201510244 https://www.scopus.com/sourceid/4700152710 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-84959019364&origin=inward&txGid=6a7e98858571f4c204d06ae7d4a11e48 https://www.webofscience.com/wos/woscc/full-record/WOS:000387954400044
• Application of orthogonality-relation for the separation of Lamb modes at a plate edge : numerical and experimental predictionsRatassepp, Madis; Klauson, Aleksander; Chati, FaridUltrasonics2015 / p. 90-95 : ill https://doi.org/10.1016/j.ultras.2014.10.022 https://www.scopus.com/sourceid/13516 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-84927729900&origin=inward&txGid=f68fdd66bcec1489422124350f32a794 https://jcr.clarivate.com/jcr-jp/journal-profile?journal=ULTRASONICS&year=2015 https://www.webofscience.com/wos/woscc/full-record/WOS:000347654700012
• Applying guided waves for the characterization of defects in isotropic platesRatassepp, Madis; Rihma, Joonas; Klauson, AleksanderOAS 2011 : International Conference on Optimization and Analysis of Structures, August 25-27, 2011, Tartu, Estonia : abstracts2011 / p. 38
• Autotööstuse õppetund : miks Toyotad tagasi kutsutiMiina, AleksandrInseneeria2010 / 4, lk. 28-29 : ill
• Bandgap fluctuations, hot carriers, and band-to-acceptor recombination in Cu2ZnSn(S,Se)4 microcrystalsKrustok, Jüri; Kaupmees, Reelika; Abbasi, Nafiseh; Muska, Katri; Mengü, Idil; Timmo, KristiPhysica status solidi - rapid research letters2023 / art. 2300077, 5 p. : ill https://doi.org/10.1002/pssr.202300077 https://www.scopus.com/sourceid/10400153302 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85152202775&origin=inward&txGid=df64295543ba40a9eb3cd35938c1ca9e https://jcr.clarivate.com/jcr-jp/journal-profile?journal=PHYS%20STATUS%20SOLIDI-R&year=2023 https://www.webofscience.com/wos/woscc/full-record/WOS:000962790000001
• Calculation of frozen-in defect equilibrium in ZnS:Cu:Al:Bi:ClLott, Kalju; Türn, LeoProceedings of the Estonian Academy of Sciences. Chemistry1998 / 1, p. 35-38
• CMOS defects analysis using DefSim measurement environmentPleskacz, Witold A.; Borejko, Tomasz; Walkanis, A.; Stopjakova, Viera; Jutman, Artur; Ubar, Raimund-JohannesInformal Digest of Papers : Eleventh IEEE European Test Symposium : ETS 2006 : 21-24 May 2006, Southampton, United Kingdom2006 / p. 241-246 : ill
• Complex defects in Cl doped ZnTe and CdTeValdna, VelloMRS Fall Meeting, Boston, 1996 : abstracts. 11996
• Complex defects in Cl doped ZnTe and CdTeValdna, VelloMaterials Research Society symposia proceedings series1997 / p. 585-591: ill
• Complex defects in ZnSe-based phosphorsValdna, Vello; Durst, R.; Hiie, Jaan; Jones, L.; Kallavus, UrveProc. Euromat '99. Vol. 132000 / p. 112-116
• Comprehensive study of photoluminescence and device properties in Cu2Zn(Sn1−xGex)S4 monograins and monograin layer solar cellsMengü, Idil; Muska, Katri; Pilvet, Maris; Mikli, Valdek; Dudutiene, Evelina; Kondrotas, Rokas; Krustok, Jüri; Kauk-Kuusik, Marit; Grossberg-Kuusk, MaarjaSolar energy materials and solar cells2024 / art. 113124 https://doi.org/10.1016/j.solmat.2024.113124
• Construction process technical impact factors on degradation of the external thermal insulation composite systemSulakatko, Virgo; Vogdt, Frank U.Sustainability2018 / art. 3900, 26 p. : ill https://doi.org/10.3390/su10113900 https://www.scopus.com/sourceid/21100240100 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85055725467&origin=inward&txGid=a002431b061660dfc03c7fbc7cbfcc33 https://jcr.clarivate.com/jcr-jp/journal-profile?journal=SUSTAINABILITY-BASEL&year=2022 https://www.webofscience.com/wos/woscc/full-record/WOS:000451531700074
• Correlation between surface fatigue and microstructural defects of cemented carbidesSergejev, Fjodor; Preis, Irina; Kübarsepp, Jakob; Antonov, MaksimNORDTRIB 2006 : 12th Nordic Symposium in Tribology : Helsingor, Denmark, 7-9 June 20062006 / p. 68
• Correlation between surface fatigue and microstructural defects of cemented carbidesSergejev, Fjodor; Preis, Irina; Kübarsepp, Jakob; Antonov, MaksimWear2007 / 9, p. 770-774 : ill
• Corrigendum to "Generation and development of damages in double forged tungsten in different regimes of irradiation with extreme heat loads" [J. Nucl. Mater. 495 (2017) 91-102]Paju, Jana; Väli, Berit; Laas, Tõnu; Shirokova, Veroonika; Antonov, MaksimJournal of nuclear materials2018 / p. 323-324 : tab https://doi.org/10.1016/j.jnucmat.2018.03.003 https://www.scopus.com/sourceid/29021 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85043526268&origin=inward&txGid=c2da11dd969ebcbe15c5f55b0b2f8c95 https://jcr.clarivate.com/jcr-jp/journal-profile?journal=J%20NUCL%20MATER&year=2022 https://www.webofscience.com/wos/woscc/full-record/WOS:000429498200035
• Crack formation during post-treatment of nano- and microfibres prepared by sol-gel techniqueTätte, Tanel; Kolesnikova, Anna; Hussainov, Medhat; Talviste, R.; Lõhmus, Rünno; Romanov, Alexey; Hussainova, Irina; Part, Marko; Lõhmus, AntsJournal of nanoscience and nanotechnology2010 / 9, p. 6009-6016 https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/21133140/
• Crack in recovery boilerSuik, HeinrichOil shale1997 / 3, p. 328-334: ill
• Creation of defects and self-localized vibrations in crystals : effects of long-range forces in nonlinear dynamicsHaas, Mati; Hižnjakov, Vladimir; Klopov, Mihhail; Shelkan, A.International Conference : FM&NT : Functional Materials and Nanotechnologies 2011 : University of Latvia, April 5-8 : conference program. Book of abstracts2011 / p. 173
• Creation of defects in cathodochromic sodalitesDenks, V.; Ruus, Tõnu; Denisov, R.Defects in insulating crystals : abstracts of contributed papers : international conference, Riga, May 18-23, 19811981 / p. 358-359 https://www.ester.ee/record=b1808810*est
• Creation of defects in solids: effect of long-range forcesHižnjakov, Vladimir; Haas, Mati; Klopov, Mihhail; Šelkan, AleksanderAdvances in applied physics and materials science congress : 12.-15.05.2011, Antalya, Turkey. Vol. 12011 / p. 467
• Damage detection in quasi-isotropic composite bends using ultrasonic feature guided wavesYu, Xudong; Ratassepp, Madis; Fan, ZhengComposites Science and Technology2017 / p. 120-129 : ill https://doi.org/10.1016/j.compscitech.2017.01.011
• Dedicated to the memory of Prof. M. Sheinkman effect of ultrasonic treatment on the defect structure of the Si-SiO2 systemKropman, Daniel; Dolgov, Sergei; Onufrijevs, Pavels; Dauksta, EdvinsGettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology XV2014 / p. 352-357 : ill https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/SSP.205-206.352 https://www.scopus.com/sourceid/21100305259 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-84886782662&origin=inward&txGid=689574b4b5c8f661d063627c2f2df3e1 https://jcr.clarivate.com/jcr-jp/journal-profile?journal=SOLID%20STATE%20PHENOM&year=2005 https://www.webofscience.com/wos/woscc/full-record/WOS:000336338000051
• Deep defects in Cu2ZnSnS4 monograin solar cellsKask, Erkki; Raadik, Taavi; Grossberg, Maarja; Josepson, Raavo; Krustok, JüriEnergy procedia2011 / p. 261-265
• Defect oriented fault coverage of 100stuck-at fault test setsBlyzniuk, M.; Cibakova, Tatiana; Gramatova, Elena; Kuzmicz, W.; Lobur, M.; Pleskacz, Witold A.; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-JohannesProceedings of the 7th International Conference Mixed Design of Integrated Circuits and Systems : MIXDES 2000 : Gdynia, Poland, 15-17 June 20002000 / p. 511-516 : ill https://repo.pw.edu.pl/info.seam?ps=20&id=WUT7e20f35d67ae45d3b2d1264d7a4ba722&lang=en&pn=1&cid=156607
• Defect structure of Cl and Cu doped CdS heat treated in Cd and S2 vapourKukk, Peeter-Enn; Altosaar, MareJournal of solid state chemistry1983 / p. 1-11
• Defect-oriented fault simulation and test generation in digital circuitsKuzmicz, W.; Pleskacz, Witold A.; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-JohannesIEEE ISQED 2001 : proceedings of the IEEE 2001 2nd International Symposium on Quality Electronic Design : March 26-28, 2001, San Jose, California2001 / p. 365-371 https://ieeexplore.ieee.org/document/915257
• Defect-oriented test generation and fault simulation in the environment of MOSCITOSchneider, Andre; Diener, Karl-Heinz; Gramatova, Elena; Fisherova, Maria; Ivask, Eero; Ubar, Raimund-Johannes; Pleskacz, Witold A.; Kuzmicz, W.BEC 2002 : proceedings of the 8th Biennial Baltic Electronics Conference : October 6-9, 2002, Tallinn, Estonia2002 / p. 303-306 : ill
• Defect-oriented test generation using probabilistic estimationCibakova, Tatiana; Fischerova, Maria; Gramatova, Elena; Kuzmicz, W.; Pleskacz, Witold A.; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-JohannesProceedings of the 8th International Conference Mixed Design of Integrated Circuits and Systems : MIXDES 2001 : Zakopane, Poland, 21-23 June 20002001 / p. 131-136 : ill
• Defects in CdTe-based photodetectorsValdna, VelloMaterials Research Society Symposia proceedings series2000 / p. 241-246 : ill
• Defects in chlorine doped CdTe thin filmsValdna, Vello; Hiie, Jaan; Gavrilov, AlekseiAbstracts POLYSE2000 / p. 36
• Defects in chlorine-doped CdTe thin filmsValdna, Vello; Hiie, Jaan; Gavrilov, AlekseiSolid state phenomena2001 / p. 155-160 : ill
• Defektide ja rikete seoste analüüs : lepingu Lep16039 aruanne [Võrguväljaanne]Palu, Ivo; Keel, Matti; Tammoja, Heiki2016 https://www.elektrilevi.ee/-/doc/6305157/ettevottest/defektide_rikete_aruanne.pdf
• Defektide tasakaalu kinnikülmutamise arvutamine tsinksulfiidisLott, Kalju; Türn, LeoXXIII Eesti keemiapäevad : teaduskonverentsi ettekannete referaadid1997 / lk. 71
• DefSim-based exercises for studying defects in CMOS gatesJutman, Artur; Pleskacz, Witold A.; Boiko, Nikolai; Ubar, Raimund-JohannesEWME 2006 proceedings : 6th International Workshop on Microelectronics Education : 8-9 June, 2006, Stockholm, Sweden2006 / p. 23-26 : ill
• Dependence of the friction coefficient on roughness parameters during early stage fretting of (Al,Ti)N coated surfacesPodgurski, Vitali; Adoberg, Eron; Surženkov, Andrei; Kimmari, Eduard; Viljus, Mart; Mikli, Valdek; Hartelt, M.; Wäsche, R.; Šima, M.; Kulu, PriitWear2011 / p. 853-858 : ill https://www.sciencedirect.com/science/article/abs/pii/S0043164811001815
• Detection of axial cracks in pipes using focused guided wavesFletcher, Sam; Lowe, Michael John Stewart; Ratassepp, Madis; Brett, ColinJournal of nondestructive evaluation2012 / p. 56-64 : ill https://www.researchgate.net/publication/234956324_Detection_of_Axial_Cracks_in_Pipes_Using_Focused_Guided_Waves
• Detection of surface defects in metals : a case studyMärtens, Olev; Land, Raul; Metshein, Margus; Abdullayev, Anar; Vennikas, Henri; Le Moullec, Yannick; Rist, MarekProceedings of the Estonian Academy of Sciences2025
• Deterministic defect-oriented test generation for combinational circuitsRaik, Jaan; Ubar, Raimund-Johannes; Sudbrock, Joachim; Kuzmicz, Wieslaw; Pleskacz, Witold A.LATW 2005 : 6th IEEE Latin-American Test Workshop : March 30 - April 2, 2005, Salvador, Bahia, Brazil : [digest of papers]2005 / p. 325-330 : ill
• Diffusion acoustique d'un moyeu et d'une paleCite, Nicolas; Chati, Farid; Leon, Fernand; Maze, Gerard; Naar, Hendrik; Klauson, Aleksander10eme Congres Francais d'Acoustique : Lyon, 12-16 Avril 20102010 / [5] p. : ill https://theses.hal.science/CFA2010-APU12/hal-00537192v1
• Doping and defect thermodynamic equilibrium in ZnSLott, Kalju2000 http://www.ester.ee/record=b1316491*est
• Effects of long-range forces in nonlinear dynamics of crystals : creation of defects and self-localized vibrationsHaas, Mati; Hižnjakov, Vladimir; Klopov, Mihhail; Shelkan, A.IOP conference series : materials science and engineering2010 / 1, p. 01245 : ill https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1757-899X/15/1/012045
• Elastic models of defects in two-dimensional crystalsKolesnikova, Anna; Orlova, T. S.; Hussainova, Irina; Romanov, AlexeyPhysics of the solid state2014 / p. 2573-2579 : ill https://doi.org/10.1134/S1063783414120166 https://www.scopus.com/sourceid/29223 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-84914127091&origin=inward&txGid=908a594f0841a86355ade661e80828b3 https://jcr.clarivate.com/jcr-jp/journal-profile?journal=PHYS%20SOLID%20STATE%2B&year=2014 https://www.webofscience.com/wos/woscc/full-record/WOS:000346923600032
• Electronic structure and defect states in bismuth and antimony sulphides identified by energy-resolved electrochemical impedance spectroscopyMiliaieva, D.; Nadaždy, V.; Koltsov, M. A.; Lopez, C.; Saeeyekta, H.; Kuliček, J.; Cazorla, C.; Saucedo, E.; Grzibovskis, Raitis; Vembris, Aivars; Krunks, Malle; Spalatu, NicolaeJournal of Physics Energy2025 / art. 035012 https://doi.org/10.1088/2515-7655/add59f
• Enhanced Crack Detection in Composite Plates : Integrating Haar Wavelet Transform with Convolutional Neural NetworksMehrparvar, Marmar; Majak, Jüri; Karjust, Kristo6th International Conference on Multidisciplinary Design Optimization and Applications (MDOA 2024)2025 / art. 01008 https://www.e3s-conferences.org/articles/e3sconf/abs/2025/31/e3sconf_mdoa2025_01008/e3sconf_mdoa2025_01008.html https://doi.org/10.1051/e3sconf/202563101008
• Evaluating fault emulation on FPGAEllervee, Peeter; Raik, Jaan; Tihhomirov, Valentin; Tammemäe, KalleField-Programmable Logic and Applications : 14th International Conference, FPL 2004 : Antwerp, Belgium, August 30-September 1, 2004 : proceedings2004 / p. 354-363 : ill https://link.springer.com/chapter/10.1007/978-3-540-30117-2_37
• Extended defects in ZnO : efficient sinks for point defectsAzarov, Alexander; Rauwel, Protima; Hallen, Anders; Monakhov, Edouard; Svensson, Bengt G.Applied physics letters2017 / p. 022103-1 - 022103-5 : ill https://doi.org/10.1063/1.4973463 https://www.scopus.com/sourceid/27030 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85009191857&origin=inward&txGid=23f6b0b970b8d2f3abdccb6af4fe43c7 https://jcr.clarivate.com/jcr-jp/journal-profile?journal=APPL%20PHYS%20LETT&year=2017 https://www.webofscience.com/wos/woscc/full-record/WOS:000392835300033
• Failure times of gypsum boardsJust, Alar; Schmid, Joachim; König, J.Structures in Fire : proceedings of the 6th International Conference (SiF'10) : June 2-4, 2010, East Lansing, MI2010 / p. 593-601
• Fatigue strength prediction of carbide composites by considering pores to be equivalent to small defects : effect of hot isostatic pressingSergejev, Fjodor; Preis, Irina; Kübarsepp, JakobBook of abstracts : International Symposium on Fatigue Design and Material Defects : Trondheim, Norway, 23-25 May 20112011 / p. 41-42
• Ga- and In-doping of ZnSLott, Kalju; Raukas, Maie; Vishnjakov, A.; Grebennik, A.E-MRS - IUMRS 2000 Spring Meeting : European Materials Research Society 2000 Spring Meeting : May 30-June 2, 2000, Strasbourg (France) : final book of abstracts2000 / p. P-7
• Generation and development of damage in double forged tungsten in different combined regimes of irradiation with extreme heat loadsPaju, Jana; Väli, Berit; Laas, Tõnu; Shirokova, Veroonika; Antonov, MaksimJournal of nuclear materials2017 / p. 91-102 : ill https://doi.org/10.1016/j.jnucmat.2017.07.042 https://www.scopus.com/sourceid/29021 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85029677805&origin=inward&txGid=822018c74b4a14fc366d2e59972569cc https://jcr.clarivate.com/jcr-jp/journal-profile?journal=J%20NUCL%20MATER&year=2017 https://www.webofscience.com/wos/woscc/full-record/WOS:000413594400012
• Growth surface morphology, and electrical resistivity of fully strained substoichiometric epitaxial TiN_x (0.67 ≤ x < 1.0) layers on MgO(001)Shin, C.-S.; Rudenja, Sergei; Gall, D.; Hellgren, N.; Lee, T.-Y.; Petrov, I.; Greene, J.E.Journal of applied physics2004 / 1, p. 356-362 : ill https://www.researchgate.net/publication/228927816_Growth_surface_morphology_and_electrical_resistivity_of_fully_strained_substoichiometric_epitaxial_TiN_067_x_10_layers_on_MgO_001
• Hierarchical analysis of short defects between metal lines in CMOS ICPleskacz, Witold A.; Jenihhin, Maksim; Raik, Jaan; Rakowski, Michal; Ubar, Raimund-Johannes; Kuzmicz, WieslawProceedings : 11th EUROMICRO Conference on Digital System Design : Architectures, Methods and Tools : (DSD 2008) : September 3-5, 2008, Parma, Italy2008 / p. 729-734 : ill https://ieeexplore.ieee.org/document/4669309
• Hierarchical approach to test generation for digital systems at system, circuit and defect levelsUbar, Raimund-Johannes45. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, 04.-06.10.2000 : Tagungsband2000 / S. 711-716 : Ill
• Hierarchical defect level test quality analysisBlyzniuk, M.; Cibakova, Tatiana; Gramatova, Elena; Kuzmicz, W.; Lobur, M.; Pleskacz, Witold A.; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-JohannesVILAB User Forum2000 / [11] p
• Hierarchical defect-oriented fault simulation for digital circuitsBlyzniuk, M.; Cibakova, Tatiana; Gramatova, Elena; Kuzmicz, W.; Lobur, M.; Pleskacz, Witold A.; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-JohannesIEEE European Test Workshop : 23-26 May 2000, Cascais, Portugal : ETW 2000 : proceedings2000 / p. 69-74 : ill https://ieeexplore.ieee.org/document/873781
• Hierarchical defect-oriented fault simulation for digital circuitsBlyzniuk, M.; Cibakova, Tatiana; Gramatova, Elena; Kuzmicz, W.; Lobur, M.; Pleskacz, Witold A.; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-JohannesIEEE European Test Workshop2000 / p. 151-156 https://ieeexplore.ieee.org/document/873781
• Hierarchical physical defect reasoning in digital circuitsKostin, Sergei; Ubar, Raimund-Johannes; Raik, Jaan; Brik, MarinaEstonian journal of engineering2011 / 3, p. 185-200
• Hierarchical test generation for combinational circuits with real defects coverageCibakova, Tatiana; Fischerova, Maria; Gramatova, Elena; Kuzmicz, W.; Pleskacz, Witold A.; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-JohannesMicroelectronics reliability2002 / p. 1141-1149 : ill https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S002627140200080X
• High temperature antistructure disorder in undoped ZnSLott, Kalju; Šinkarenko, Svetlana; Türn, Leo; Nirk, Tiit; Öpik, Andres; Kallavus, Urve; Gorokhova, Elena; Grebennik, A.; Vishnjakov, A.Physica B : condensed matter2009 / 23/24, p. 5006-5008 : ill https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0921452609009910
• High temperature defect equilibrium in ZnS:Cu single crystalsLott, Kalju; Šinkarenko, Svetlana; Türn, Leo; Nirk, Tiit; Öpik, Andres; Kallavus, Urve; Gorokhova, Elena; Grebennik, A.; Vishnjakov, A.Physica status solidi (b)2010 / 7, p. 1662-1665
• High temperature investigation of ZnS:Ga and CdSe:GaLott, Kalju; Nirk, Tiit; Volobujeva, Olga; Šinkarenko, Svetlana; Türn, Leo; Kallavus, Urve; Grebennik, A.; Vishnjakov, A.Physica B2006 / Proceedings of the 23rd International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-23 : held in Awaji Island, Japan, 24-29 July, 2005. p. 764-766 : ill https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0921452605015796
• How to generate high quality tests for digital systemsUbar, Raimund-Johannes; Aarna, Margit; Kruus, Helena; Raik, Jaan2004 International Semiconductor Conference : 27th edition, October 4-6, 2004, Sinaia, Romania : CAS 2004 proceedings. Volume 22004 / p. 459-462 : ill http://dx.doi.org/10.1109/SMICND.2004.1403048
• Implementation of focused guided waves to locate axial defects in pipesFletcher, Sam; Lowe, Michael John Stewart; Ratassepp, Madis; Brett, C.Review of progress in quantitative nondestructive evaluation. Volume 292010 / p. 223-230 https://doi.org/10.1063/1.3362398
• Implementation of focused guided waves to locate axial defects in pipesFletcher, Sam; Ratassepp, Madis; Brett, C.; Lowe, Michael John StewartThe 48th Annual British Conference on NDT : Blackpool, UK, 14-17 September, 20092009 / ? p
• Influence of point defects on optoelectronic properties of II-IV semiconductorsKukk, Peeter-Enn; Krustok, Jüri; Altosaar, Mare; Aarna, HeitiAbstract booklet of the First International Conference on Mathematical Science of chalcogenide and Diamond-structure Semiconductors, Chernovtsi, 1994. Vol. 11994 / p. 129
• Interaction between point defects, extended defects and impurities in the Si-SiO2 system during the process of its formationKropman, Daniel; Kärner, T.; Abru, Uno; Ugaste, Ülo; Mellikov, EnnThin solid films2004 / 1/2, p. 53-57 : ill https://www.sciencedirect.com/science/article/abs/pii/S0921510704003459
• Interaction between point defects, extended defects and impurities in the Si-SiO2 system during the process of its formationKropman, Daniel; Kärner, T.; Abru, Uno; Ugaste, Ülo; Mellikov, Enn; Kauk, MaritMaterials science and engineering : B2004 / p. 295-298 : ill https://www.sciencedirect.com/science/article/abs/pii/S0921510704003459
• Interaction of point defects with impurities in the Si-SiO2 system and its influence on the properties of the interfaceKropman, Daniel; Mellikov, Enn; Lott, Kalju; Kärner, T.; Heinmaa, I.Getterring and defect engineering in semiconductor technology XIII : CADEST 2009 : proceedings of the XIIIth International Autumn Meeting, Döllnsee-Schorfheide, north of Berlin, Germany, September 26 - October 02, 20092010 / p. 145-148 : ill https://www.sciencedirect.com/science/article/abs/pii/S0040609009014564
• Investigating defects in digital circuits by Boolean differential equationsKruus, Helena; Orasson, Elmet; Robal, Tarmo; Ubar, Raimund-JohannesThe 4th International Conference "Distance Learning - Educational Sphere of XXI Century" (DLESC'04)2004 / p. 432-435
• Investigation of EXCESS Zn in ZnOLott, Kalju; Volobujeva, Olga; Raukas, Maie; Türn, Leo; Grebennik, A.; Vishnjakov, A.10th International Conference on Shallow-level Centers in Semiconductors : SLCS-10, Warsaw, Poland, July 24-27, 2002 : program & abstracts2002 / p. 43 https://onlinelibrary.wiley.com/doi/abs/10.1002/pssc.200306186
• Investigation of excess Zn in ZnOLott, Kalju; Volobujeva, Olga; Raukas, Maie; Türn, Leo; Grebennik, A.; Vishnjakov, A.Physica status solidi (c)2003 / 2, Proceedings 10th International Conference on Shallow Level Centers in Semiconductors (SLCS-10) : Warsaw, Poland, 24-27 July 2002, p. 622-625 : ill https://onlinelibrary.wiley.com/doi/abs/10.1002/pssc.200306186
• Investigation of nickel and copper microfoils defect formation under the stressLeinberg, Silver; Lõhmus, Rünno; Hussainova, Irina; Nisumaa, Reet15th International Baltic Conference "Engineering Materials & Tribology. Baltmattrib - 2006" : October 5-6, 2006, Tallinn, Estonia : abstracts2006 / p. 42-43 : ill
• Investigation of P-i-n GaAs structures by DLTS method : the deep level transient spectroscopy in application to GaAs p-i-n structures for identification of deep levelsToompuu, Jana2010 https://www.amazon.com/Investigation-p-i-n-GaAs-structures-method/dp/383839223X
• Investigation of potential and compositional fluctuations in CuGa3Se5 crystals using photoluminescence spectroscopyGrossberg, Maarja; Krustok, Jüri; Jagomägi, Andri; Leon, M.; Arushanov, E.; Nateprov, A.; Bodnar, I.Thin solid films2007 / 15, p. 6204-6207 : ill https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0040609006016221
• Investigation of the reconstruction accuracy of guided wave tomography using full waveform inversionRao, Jing; Ratassepp, Madis; Fan, ZhengJournal of sound and vibration2017 / p. 317-328 : ill https://doi.org/10.1016/j.jsv.2017.04.017
• Keevitus ja külgnevad protsessid. Metallide keevisliidete geomeetriliste defektide liigitusÜksti, Lembit; Laansoo, Andres; Laurfeld, Toomas2004 https://www.ester.ee/record=b1860516*est
• Keevitus ja külgnevad protsessid. Metallide keevisliidete geomeetriliste defektide liigitusLaansoo, Andres2010 https://www.ester.ee/record=b2594992*est
• Keevitus [Võrguteavik] : terase, nikli, titaani ja nende sulamite sulakeevitusliited (välja arvatud kiirguskeevituse meetodid) ; Kvaliteeditasemed keevitusdefektide järgi = Welding : fusion-welding joints in steel, nickel, titanium and their alloys (beam welding excluded) ; Quality levels for imperfections (ISO 5817:2003)2015 http://www.ester.ee/record=b4502650*est
• Keevitus. Terase, nikli, titaani ja nende sulamite sulakeevitusliited (välja arvatud kiirguskeevituse meetodid). Kvaliteeditasemed keevitusdefektide järgi = Welding. Fusion-welded joints in steel, nickel, titanium and their alloys (beam welding excluded). Quality levels for imperfections (ISO 5817:2003)2011 https://www.ester.ee/record=b2652603*est
• Leakage currents in 4H-SiC JBS diodesIvanov, Pavel; Korolkov, Oleg; Sleptšuk, NataljaSemiconductors2012 / p. 397-400 : ill https://link.springer.com/article/10.1134/S106378261203013X
• Local dynamics of YBa2Cu3O6+x and O(1)-defect dynamical stabilityKristoffel, Nikolai; Klopov, MihhailPhysical review B, Condensed matter1996 / 13, p. 9074-9076 https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/9984636/
• Low-K factor of SiO2 layer on Si irradiated by YAG:Nd laserMedvid, A.; Onufrijevs, Pavels; Mellikov, Enn; Kropman, Daniel; Muktepavela, F.; Bakradze, G.Journal of non-crystalline solids2007 / p. 703-707 : ill https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0022309306014116
• Macro level defect-oriented diagnosability of digital circuitsKostin, Sergei; Ubar, Raimund-Johannes; Raik, JaanBEC 2010 : 2010 12th Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 12th Biennial Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology, October 4-6, 2010, Tallinn, Estonia2010 / p. 149-152 : ill
• Mapping physical defects to logic level for defect oriented testingUbar, Raimund-JohannesSCS 2003 : International Symposium on Signals, Circuits and Systems : July 10-11, 2003, Iasi, Romania : proceedings. Vol. 22003 / p. 453-456 : ill https://ieeexplore.ieee.org/document/5731320
• A method for the calculation of defect equilibriumLott, Kalju; Türn, LeoE-MRS'98 : European Materials Research Society 1998 Spring Meeting, June 16-19, 1998, Strasbourg (France) : final book of abstracts1998 / p. C/P14 https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0022024898007933
• A method for the calculation of defect equilibriumLott, Kalju; Türn, LeoJournal of crystal growth1999 / p. 493-496: ill
• A method for the calculation of defect equilibrium in ZnS:Cu:Al:Bi:ClLott, Kalju; Türn, LeoProceedings of the Estonian Academy of Sciences. Chemistry1996 / p. 130-133 https://www.ester.ee/record=b1072099*est
• Modeling of defect formation and self-localized vibrations in solidsHižnjakov, Vladimir; Haas, Mati; Šelkan, Aleksander; Klopov, Mihhail2012 Computer Simulation of Radiation Effects in Solids, Santa Fe, New Mexico, USA, June 24-29, 2012 : COSIRES 2012 program book2012 / p. 24 https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0168583X1300222X
• Modeling of self-localized vibrations and defect formation in solidsHižnjakov, Vladimir; Haas, Mati; Pishtshev, Aleksandr; Šelkan, Aleksander; Klopov, MihhailNuclear instruments and methods in physics research section B-beam interactions with materials and ato2013 / p. 91-94 : ill https://doi.org/10.1016/j.nimb.2013.01.055 https://www.scopus.com/sourceid/29068 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-84884817084&origin=resultslist&sort=plf-f&src=s&sot=b&sdt=b&s=DOI%2810.1016%2Fj.nimb.2013.01.055%29&sessionSearchId=a6a9a3b6ef7339347899f2ad4e915514&relpos=0 https://jcr.clarivate.com/jcr-jp/journal-profile?journal=NUCL%20INSTRUM%20METH%20B&year=2013 https://www.webofscience.com/wos/woscc/full-record/WOS:000320151600022
• Modeling the effect of anisotropy in ultrasonic-guided wave tomographyRatassepp, Madis; Rao, Jing; Yu, Xudong; Fan, ZhengIEEE Transactions on Ultrasonics, Ferroelectrics, and Frequency Control2022 / p. 330-339 : ill https://doi.org/10.1109/TUFFC.2021.3114432 https://www.scopus.com/sourceid/12998 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85115727605&origin=inward&txGid=006124354c6ca9daeeeaa34831baa1d0 https://jcr.clarivate.com/jcr-jp/journal-profile?journal=IEEE%20T%20ULTRASON%20FERR&year=2022 https://www.webofscience.com/wos/woscc/full-record/WOS:000736741000035
• Modelling construction process impact factors on degradation of thin rendered facades = Ehitusprotsessi mõjufaktorite modelleerimine õhekrohv fassaadide lagunemisel = Methode zur Bewertung der Relevanz von beeinflussenden Faktoren im Bauprozess auf die Mängelfreiheit von WärmedämmverbundsystemenSulakatko, Virgo2019 https://digi.lib.ttu.ee/i/?11575
• Module level defect simulation in digital circuitsKuzmicz, Wieslaw; Pleskacz, Witold A.; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-JohannesProceedings of the Estonian Academy of Sciences. Engineering2001 / 4, p. 253-268
• Murakami approach : fatigue strength prediction of cemented carbides by considering pores to be equivalent to small defectsSergejev, Fjodor; Preis, Irina; Klaasen, Heinrich; Kübarsepp, JakobEURO PM2005 : congress & exhibition : 2-5 October 2005, Prague, Czech Republic : proceedings. Volume 12005 / p. 335-340 : ill
• New maize mutants defective in anther developmentTimofejeva, Ljudmilla; Lee, Sidae; Harper, Lisa; Golubovskaja, Inna; Wang, Rachel; Vasudevan, Srividya; Walbot, Virginia; Cande, Zac51st Maize Genetics Conference : March 12-15, 2009, St.Charles, Illinois, USA2009 / p. 93
• 1.4 eV photoluminescence in chlorine-doped polycrystalline CdTe with a high density of defectsKrustok, Jüri; Mädasson, Jaan; Collan, Heikki; Hjelt, KariJournal of materials science1997 / p. 1545-1550: ill https://link.springer.com/article/10.1023/A:1018526622440
• 1.4-eV photoluminescence in cholorine doped plycrystalline CdTeKrustok, Jüri; Mädasson, Jaan; Hjelt, Kari; Collan, HeikkiJournal of physics and chemistry of solids1994
• Optical spectroscopy studies of Cu₂ZnSnSe₄ thin filmsYakushev, M. V.; Forbes, I.; Mudryi, A. V.; Grossberg, Maarja; Krustok, Jüri; Beattie, N. S.; Moynihan, M.; Rockett, A.; Martin, R. W.Thin solid films2015 / p. 154-157 : ill https://doi.org/10.1016/j.tsf.2014.09.010 https://www.scopus.com/sourceid/12347 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-84926435469&origin=inward&txGid=4cb06c3599a91c94dc933abeccf628ed https://jcr.clarivate.com/jcr-jp/journal-profile?journal=THIN%20SOLID%20FILMS&year=2015 https://www.webofscience.com/wos/woscc/full-record/WOS:000352225900033
• Pavement defect segmentation in orthoframes with a pipeline of three convolutional neural networksLõuk, Roland; Riid, Andri; Pihlak, Rene; Tepljakov, AlekseiAlgorithms2020 / art. 198, 27 p. : ill https://doi.org/10.3390/a13080198 https://www.scopus.com/sourceid/21100199795 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85090390206&origin=inward&txGid=26edbca5668d23b701c1f11234fbac1d https://jcr.clarivate.com/jcr-jp/journal-profile?journal=ALGORITHMS&year=2022 https://www.webofscience.com/wos/woscc/full-record/WOS:000567145900001
• Pavement distress detection with deep learning using the orthoframes acquired by a mobile mapping systemRiid, Andri; Lõuk, Roland; Pihlak, Rene; Tepljakov, Aleksei; Vassiljeva, KristinaApplied sciences2019 / art. 4829, 22 p. : ill https://doi.org/10.3390/app9224829 https://www.scopus.com/sourceid/21100829268 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85075257880&origin=inward&txGid=a5d19b5bd2746d7487943dea35ff101b https://jcr.clarivate.com/jcr-jp/journal-profile?journal=APPL%20SCI-BASEL&year=2022 https://www.webofscience.com/wos/woscc/full-record/WOS:000502570800106
• Photoluminescence of chalcopyrite tellurides = Kalkopüriitsete telluriidide fotoluminestsentsJagomägi, Andri2006 https://www.ester.ee/record=b2209329*est
• Photoluminescence of deep defect pairs in chalcopyrite ternariesKrustok, Jüri; Raudoja, Jaan; Schön, J.H.; Yakushev, M.; Collan, HeikkiProceedings of the 16th European Photovoltaic Solar Energy Conference. 12001 / p. 887-890 https://tiedejatutkimus.fi/fi/results/publication/0353121300
• Photoluminescence properties of polycrystalline AgGaTe2Krustok, Jüri; Jagomägi, Andri; Grossberg, Maarja; Raudoja, Jaan; Danilson, MatiSolar energy materials and solar cells2006 / 13, p. 1973-1982 : ill https://www.researchgate.net/publication/240431559_Photoluminescence_properties_of_polycrystalline_AgGaTe_2
• Photoluminescence study of defect clusters in Cu2ZnSnS4 polycrystalsGrossberg, Maarja; Raadik, Taavi; Raudoja, Jaan; Krustok, JüriCurrent applied physics2014 / p. 447-450 : ill https://doi.org/10.1016/j.cap.2013.12.029 https://www.scopus.com/sourceid/27477 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-84893125740&origin=inward&txGid=73a0afcb5e39174bd5764ec4bfd53641 https://jcr.clarivate.com/jcr-jp/journal-profile?journal=CURR%20APPL%20PHYS&year=2014 https://www.webofscience.com/wos/woscc/full-record/WOS:000331640600040
• Praaktooted ja praagiga kaasnevad tasustamisvõimalusedGüldenkoh, MaretPalk : infoleht2021 / lk. 11-13 https://www.ester.ee/record=b3004732*est
• Probabilistic analysis of CMOS physical defects in VLSI circuits for test coverage improvementBlyzniuk, M.; Kazymyra, I.; Kuzmicz, W.; Pleskacz, Witold A.; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-JohannesMicroelectronics reliability2001 / p. 2023-2040 : ill https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0026271401000920
• Quantitative imaging of elongated thickness defects in pipelines using ultrasonic guided wave tomographyRasgado Moreno, Carlos Omar; Ratassepp, MadisASME 2023 International Mechanical Engineering Congress and Exposition (IMECE2023) : proceedings. Vol. 12023 / art. 112228 https://doi.org/10.1115/IMECE2023-112228
• Rappuv sõidukogemus : [vastus Kaupo Sampelson'i küsimusele]Aavik, AndrusMiks seisavad kured ühe jala peal? Ja veel 100 huvitavat küsimust2010 / lk. 113-115
• Reflection of the fundamental torsional guided wave mode from axially aligned defects in pipesFletcher, Sam; Ratassepp, Madis; Lowe, Michael John Stewart; Brett, C.; Trelawny, J.Anglo-French Physical Acoustics Conference abstracts : Arcachon, France, 8-10 December 20082008 / p. 8
• A review of aging models for electrical insulation in power cablesChoudhary, Maninder; Shafiq, Muhammad; Kiitam, Ivar; Hussain, Amjad; Palu, Ivo; Taklaja, PaulEnergies2022 / Art. nr. 3408 https://doi.org/10.3390/en15093408 https://www.scopus.com/sourceid/62932 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85130631338&origin=resultslist&sort=plf-f&src=s&sid=3b42bc15325c13282d3a40f32ea9fcd1&sot=b&sdt=b&s=TITLE-ABS-KEY%28%22a+review+of+aging+models%22%29&sl=34&sessionSearchId=3b42bc15325c13282d3a40f32ea9fcd1 https://jcr.clarivate.com/jcr-jp/journal-profile?journal=ENERGIES&year=2022 https://www.webofscience.com/wos/woscc/full-record/WOS:000795269900001
• Role of defects in the physiological fate of carbon nanomaterialsKäkinen, Aleksandr; Kuusik, Rein, keemikTÜ ja TTÜ doktorikool "Funktsionaalsed materjalid ja tehnoloogiad" : 04.-05. märts 2014, Tartu2014 / [1] p
• A role of long-range interaction in ILM properties and defects creation in ionic crystalsKlopov, Mihhail; Hižnjakov, Vladimir; Haas, Mati; Shelkan, A.13th International Conference on the Applications of Density Functional Fheory in Chemistry and Physics : Lyon, France, 31 August - 4 September 20092009 / p. 269
• SH0 mode interaction with the propagation directional crack in a plateRatassepp, Madis; Lowe, Michael John StewartReview of Progress in Quantitative Nondestructive Evaluation. Vols. 28A and 28B2009 / p. 161-168 : ill
• Some of comparative properties of diffusion welded contacts to 6H- and 4H-silicon carbideKorolkov, Oleg; Rang, ToomasInternational Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2001 - ICSCRM2001 - October 28-November 2, 2001 (Epochal Tsukuba, Ibaraki, Japan) : technical digest2001 / p. 625-626 : ill https://www.researchgate.net/publication/250340293_Some_Comparative_Properties_of_Diffusion-Welded_Contacts_to_6H_and_4H_Silicon_Carbide
• Stability of chlorine-based complex defects in group II-VI semiconductorsValdna, VelloPhysica B2001 / p. 939-941 : ill
• Tehistaip aitab ehitada autosõbralikke teidImeline Teadus2023 / lk. 21 : fot https://www.ester.ee/record=b2747925*est
• Tehnikaülikooli uuring: 84% uuselamute puhul on ehituspraakiJõesaar, TuuliEesti Päevaleht2013 / lk. 2-3 https://www.ohtuleht.ee/505603/tehnikaulikooli-uuring-84-uuselamute-puhul-on-ehituspraaki
• Temperature dependence of very deep emission from an exciton bound to an isoelectronic defect in polycrystalline CuInS2Krustok, Jüri; Raudoja, Jaan; Jaaniso, RaivoApplied physics letters2006 / 5, p. 051905 ([3] p.) : ill https://staff.ttu.ee/~juri.krustok/PDF-s/Krustok,%20Raudoja,%20Jaaniso_APL.pdf
• The calculation of frozen-in defect equilibrium in ZnSLott, Kalju; Türn, Leo23rd Estonian Chemistry Days : abstracts of scientific conference1997 / p. 80
• The electrical and optical properties of kesteritesGrossberg, Maarja; Krustok, Jüri; Hages, Charles J.; Bishop, Douglas M.Journal of Physics Energy2019 / art. 044002, 16 p. : ill https://doi.org/10.1088/2515-7655/ab29a0
• The role of deep donor-deep acceptor complexes in CIS-related compoundsKrustok, Jüri; Raudoja, Jaan; Schön, J.H.; Yakushev, M.; Collan, HeikkiE-MRS Spring Meeting : Strasbourg, 1999 : abstracts1999 / p. O https://deepzone4.ttu.ee/~juri.krustok/PDF-s/TSF-406.pdf
• The role of deep donor-deep acceptor complexes in Cis-related compoundsKrustok, Jüri; Raudoja, Jaan; Schön, J.H.; Yakushev, M.; Collan, HeikkiThin solid films2000 / p. 406-410 : ill https://www.sciencedirect.com/science/article/abs/pii/S0040609099007567
• Theory and molecular dynamics simulations of intrinsic localized modes and defect formation in solidsHižnjakov, Vladimir; Haas, Mati; Šelkan, Aleksander; Klopov, MihhailPhysica scripta2014 / p. 1-5 : ill https://doi.org/10.1088/0031-8949/89/04/044003 https://www.scopus.com/sourceid/29122 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-84897398789&origin=inward&txGid=50fe4b19bfcf405419c32786a0ed082b https://jcr.clarivate.com/jcr-jp/journal-profile?journal=PHYS%20SCRIPTA&year=2014 https://www.webofscience.com/wos/woscc/full-record/WOS:000333449400004
• Ultraheli reedab materjalide nähtamatud vigastusedRatassepp, Madis; Lints, MartinHorisont2022 / lk. 48-52 : fot https://www.ester.ee/record=b1072243*est
• Ultrasonic imaging of irregularly shaped notches based on elastic reverse time migrationRao, Jing; Saini, Abhishek; Yang, Jizhong; Ratassepp, Madis; Fan, ZhengNDT&E international2019 / art. 102135, 5 p. : ill https://doi.org/10.1016/j.ndteint.2019.102135 https://www.scopus.com/sourceid/17852 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85068525486&origin=inward&txGid=09f785e10a2ca2cd4d0007076aac66e9 https://jcr.clarivate.com/jcr-jp/journal-profile?journal=NDT%26E%20INT&year=2022 https://www.webofscience.com/wos/woscc/full-record/WOS:000486359200009
• Varinguohtlikest ehitusvigadest : ehitiste kandekonstruktsioonide vigadest. Kahjustuste, varingueelsete olukordade ja varingute põhjusiÕiger, Karl2014 https://www.ester.ee/record=b4418388*est
• [Vastus lugeja küsimusele: Miks kruusateed treppi lähevad]Aavik, AndrusTarkade Klubi2009 / 9, lk. 8-9
• Wave scattering at discontinuities in plates and pipes = Lainete interaktsioon defektidega plaatides ja torudesRatassepp, Madis; Klauson, Aleksander; Lowe, Michael John Stewart2010 https://www.ester.ee/record=b2561121*est
• Voldemar Kuslap: ehitajad müüsid kalli hinna eest praaki : [TTÜ uuringust selgus, et 84 protsendil buumiajal valminud elamutest esines ehituspraaki : kommenteerivad Heido Vitsur, Margit Sild, Voldemar Kuslap, Karl Õiger]Vitsur, Heido; Sild, Margit; Kuslap, Voldemar; Õiger, KarlPealinn2013 / lk. 12 https://pealinn.ee/2013/01/21/voldemar-kuslap-ehitajad-muusid-kalli-hinna-eest-praaki/
• Анализ дефектной структуры полупроводниковых материаловKukk, Peeter-EnnПрименение металлоорганических соединений для получения неорганических покрытий и материалов : тезисы докладов V всесоюзного совещания, Горький, 8-10 сентября 1987 г.1987 / с. [?] https://www.ester.ee/record=b2351386*est
• Анализ некоторых причин разрушения асфальтобетонных покрытий в г. ТаллинеMespak, VelloВопросы улучшения качества строительства, ремонта и эксплуатации покрытий улиц и тротуаров : тезисы докладов III Межреспубликанской научно-технической конференции городских дорожников Прибалтиских республик, Белорусской, Украинской и Молдавской ССР1971 / с. 28-29 https://www.ester.ee/record=b1343807*est
• Взаимодействие собственных дефектов с электрически активными примесями в монокристаллах CdSeNirk, Tiit; Varvas, JüriТезисы докладов. Вторая конференция по физико-химическим основам легирования полупроводниковых материалов. г. Москва, 23-25 окт. 1972 г.1972 / с. 147-148
• Взаймодействие примесей с собственными дефектами в кристаллах ZnSe:In и ZnSe:CuNõges, Märt; Kallavus, Urve; Varvas, JüriФизика, химия и технические применения полупроводников A2B6 : тезисы докладов IV всесоюзного совещания (Одесса, 16-19 ноября 1976 г.)1976 / с. 93 https://www.ester.ee/record=b2969209*est
• Влияние дефектной структуры на процессы температурного тушения рекомбинационной люминесценции в широкоземных полупроводникахKrustok, Jüri; Lõo, Anu; Piibe, ToomasХимия и физика твердого тела : тезисы докладов 16-й Межвузовской конференции молодых ученых, Ленинград, 15-17 марта 1989 г.1989 / с. 3-4 https://www.ester.ee/record=b2924562*est
• Влияние дефектов эпитаксиального слоя на напряжение пробоя высоковольтных арсенид-галлиевых структурAškinazi, G.; Zolotarevskaja, O.; Meiler, BorissПолупроводники и гетеропереходы : сборник статей1978 / с. 64-66 : илл https://www.ester.ee/record=b1262177*est
• Влияние распределения примеси на прямую ВАХ арсенидгаллиевых силовых диодных структурVelmre, Enn; Freidin, BorisПолупроводниковые приборы : сборник статей1982 / с. 32-37 https://www.ester.ee/record=b1356516*est
• ВУФ-спектроскопия и дефекты нестехиометрических содалитовDenks, Viktor; Ruus, TõnuВакуумная ультрафиолетовая спектроскопия ионных кристаллов : [сборник статей]1981 / с. 97-124 : илл https://www.ester.ee/record=b1310295*est
• Высокотемпературное равновесие дефектов в ZnSe : InNõges, Märt; Varvas, Jüri; Nirk, Tiit; Kallavus, UrveФизическая химия соединений AIIBVI1981 / с. 67-76 : илл https://www.ester.ee/record=b1533413*est https://digikogu.taltech.ee/et/Item/dceb76ed-f60b-4ce9-b87e-618a41d25bb8
• Высокотемпературное равновесие дефектов в монокристаллах селенида кадмияVarvas, Jüri; Nirk, Tiit; Kallaste, TiitПолупроводниковые материалы. 21972 / с. 71-77 : илл https://www.ester.ee/record=b1476073*est https://digikogu.taltech.ee/et/Item/75bd57ba-4543-4614-ab7c-3230cb13e005
• Высокотемпературное равновесие дефектов в монокристаллах сульфида цинка, легированных медьюLott, Kalju; Varvas, JüriПолучение и свойства полупроводниковых соединений типа А II В VI и А IV В VI и твердых растворов на их основе : тезисы докладов Первой всесоюзной научно-технической конференций, МИСИС 1-4 февр.1977 / с. 1976-1977
• Высокотемпературное равновесие дефектов в нелегированном селениде цинкаKallavus, Urve; Nõges, Märt; Rändur, ÕieI республиканская конференция молодых ученых-химиков, 20-22 мая 1975 года : тезисы докладов1975 / с. 195 https://www.ester.ee/record=b1309964*est
• Высокотемпературное равновесие дефектов в нелегированном селениде цинкаNõges, Märt; Varvas, Jüri; Kallavus, UrveФизика, химия и технические применения полупроводников A2B6 : тезисы докладов IV всесоюзного совещания (Одесса, 16-19 ноября 1976 г.)1976 / с. 150-151 https://www.ester.ee/record=b2969209*est
• Высокотемпературное равновесие дефектов в сульфиде кадмияAarna, Heiti; Voogne, Maie; Kukk, Peeter-EnnПолупроводниковые материалы. 31976 / с. 9-21 : илл https://www.ester.ee/record=b1403374*est https://digikogu.taltech.ee/et/Item/5f8fd05c-ff69-4315-9d64-1d9c9611667b
• Высокотемпературное равновесие дефектов селенида цинка, легированного индием и медьюKallavus, Urve; Nõges, Märt; Rändur, ÕieI республиканская конференция молодых ученых-химиков, 20-22 мая 1975 года : тезисы докладов1975 / с. 196 https://www.ester.ee/record=b1309964*est
• Высокотемпературное равновесие собственных и примесных (Cu, In) дефектов в монокристаллахÖpik, Andres; Nirk, Tiit; Varvas, JüriПолучение и свойства полупроводниковых соединений типа А II В VI и А IV В VI и твердых растворов на их основе : Тезисы докладов первой всесоюзной научно-технической конференции, МИСиС 1-4 февр.1977 / с. 129
• Дефектная структура монокристаллов селенида кадмия, легированных медью и индиемÖpik, Andres; Varvas, Jüri; Türn, Leo; Martinaitis, A.Четвертая Всесоюзная конференция по физико-химическим основам легирования полупроводниковых материалов, Москва, 16-18 окт. 1979 г. : Тезисы докладов1979 / с. 176
• Дефектный состав порошкового сульфида кадмия с примесью серебра и хлораMädasson, Jaan; Krustok, Jüri; Altosaar, MareДефекты структуры и свойства керамики : четвертое Всесоюзное совещание по химии твердого тела, 11-13 июня 1985 г. : тезисы докладов1985 / с. 132
• Дефектообразование в халькогенидах цинка и кадмияAltosaar, Mare; Krustok, Jüri; Kukk, Peeter-Enn; Mädasson, Jaan; Tomson, A.; Erm, AntsТермодинамика и материаловедение полупроводников : четвёртая всесоюзная конференция, 1989 г. : тезисы докладов1989 / с. 247
• Дефекты в примесном сульфиде кадмияErm, Ants; Varema, Tiit; Altosaar, Mare; Kukk, Peeter-EnnЧетвертая Всесоюзная конференция по физико-химическим основам легирования полупроводниковых материалов, Москва, 16-18 окт. 1979 г. : тезисы докладов1979 / с. 177
• Дефекты в примесном сульфиде кадмияErm, Ants; Altosaar, Mare; Kukk, Peeter-Enn; Moin, M.Журнал неорганической химии1981 / с. 889-891 : илл https://www.ester.ee/record=b1443384*est
• Замораживание высокотемпературного состояния дефектов в сильнолегированном селениде кадмияTürn, LeoФизическая химия соединений AIIBVI1981 / с. 53-58 : илл https://www.ester.ee/record=b1533413*est https://digikogu.taltech.ee/et/Item/dceb76ed-f60b-4ce9-b87e-618a41d25bb8
• "Замороженное" состояние дефектов в селениде кадмиNirk, TiitПолупроводниковые материалы. 21972 / с. 79-84 : илл https://www.ester.ee/record=b1476073*est https://digikogu.taltech.ee/et/Item/75bd57ba-4543-4614-ab7c-3230cb13e005
• Изменения в структуре дефектов в результате прессования и последующего отжига таблеток соединений A2B6Lott, KaljuПолупроводниковые материалы. 21972 / с. 11-22 : илл https://www.ester.ee/record=b1476073*est https://digikogu.taltech.ee/et/Item/75bd57ba-4543-4614-ab7c-3230cb13e005
• Использование термодинамических методов исследования дефектной структуры полупроводников A2B6Varvas, Jüri; Nirk, Tiit; Rändur, Õie; Öpik, Andres; Aarna, Heiti; Nõges, Märt; Türn, LeoВторое всесоюзное совещание по химии твердого тела, 11-13 мая 1978 г. : Ч. 1 : тезисы докладов1978 / с. [56] https://www.ester.ee/record=b4433699*est
• Исследование дефектной структуры монокристаллов Cd Se, легированных индиемÖpik, AndresIII республиканская конференция молодых ученых-химиков, 15-17 мая 1979 года : тезисы докладов1979 / с. 7 https://www.ester.ee/record=b1280470*est
• Исследование дефектной структуры монокристаллов селенида кадмияÖpik, Andres; Varvas, JüriПолупроводниковые материалы. 31976 / с. 31-41 : илл https://www.ester.ee/record=b1403374*est https://digikogu.taltech.ee/et/Item/5f8fd05c-ff69-4315-9d64-1d9c9611667b
• Исследование дефектной структуры пленок CdSe легированных серебромÖpik, Andres; Nirk, TiitСинтез и исследование халькогенидных пленок : Тезисы докладов уральской конференции (14-16 окт.)1986 / c. [?]
• Исследование связи "краевого" излучения с собственными дефектами в ZnSe, CdS и CdSeVarvas, Jüri; Kallavus, Urve; Nirk, TiitТезисы XXIII Всесоюзной конференции по люминесценции1976 / с. 136 https://www.ester.ee/record=b3798280*est
• Квазихимия дефектов кристаллической решетки в курсе материаловеденияKukk, Peeter-EnnДефекты структуры и свойства керамики : Тезисы докладов : Четвертое Всесоюзное совещание по химии твердого тела, 11-13 июня 1985 г. Ч. 31985 / с. 116
• Кинетика процессов дефектообразования в сульфиде кадмия, легированного медьюVarema, Tiit; Voogne, MaieIII республиканская конференция молодых ученых-химиков, 15-17 мая 1979 года : тезисы докладов1979 / с. 4 https://www.ester.ee/record=b1280470*est
• Комплексное исследование высокотемпературного равновесия дефектов в сульфиде кадмияAarna, Heiti; Kukk, Peeter-EnnФизика, химия и технические применения полупроводников A2B6 : тезисы докладов IV всесоюзного совещания (Одесса, 16-19 ноября 1976 г.)1976 / с. 3 https://www.ester.ee/record=b2969209*est
• Комплексное рентгенодифракционное исследование строения нарушенных слоев, обусловленных резкой кремнииMilvidski, M.; Fomin, V.; Meiler, BorissФизика и химия обработки материалов1986 / с. 122-125 https://www.ester.ee/record=b1804847*est
• Комплексный метод определения схемы и энергии активации дефектообразования в соединениях AIIBVIKukk, Peeter-EnnНеорганические материалы1980 / с. 1509-1513 : ил https://www.ester.ee/record=b1611497*est
• Лазерный отжиг радиационных дефектов в некогерентных полупроводниковых источниках излученияManak, I.S.; Ljutov, A.V.Исследования по прикладной квантовой электронике1983 / с. 49-54 : ил https://www.ester.ee/record=b1271959*est https://digikogu.taltech.ee/et/Item/a565466d-098c-472e-b687-7647aea327b0
• Локализация дефектов в цифровых схемахEvartson, TeetМашинное проектирование электронных устройств и систем1986 / с. 110-119
• Локальная динамика титанатов Sr и Ba с дефектамиKristoffel, Nikolai; Klopov, MihhailЧетырнадцатое Всесоюзное (Пекаровское) совещание по теории полупроводников, Донецк, 3-5 октября 1989 г : тезисы докладов1989 / с. 141
• Люминесцентный анализ дефектной структуры легированного сульфида кадмияKrustok, Jüri; Kukk, Peeter-Enn; Mädasson, JaanМатериалы «IХ Международного совещания по фотоэлектрическим и оптическим явлениям в твердых телах" Варна, Болгария1989 / с. 113
• Люминесцентный анализ точечных дефектов в легированном сульфиде кадмияKukk, Peeter-EnnУкраїнський фізичний журнал : науковий журнал = Украинский физический журнал = Ukrainian Journal of Physics1982 / с. 754-761 : илл https://www.ester.ee/record=b1361425*es
• Направленное дефектообразование в соединениях группы АIIВVI : автореферат диссертации на соискание ученой степени доктора химических наук (02.00.01)Kukk, Peeter-Enn1984 https://www.ester.ee/record=b1551469*est
• Направленное дефектообразование в широкозонных полупроводникахKukk, Peeter-EnnIV школа по физико-химическим основам методов получения и исследования материалов электронной техники : Тезисы докладов, г. Красноярск, 30 мая - 12 июня 1984 г.1985 / c. 45-47
• Направленное дефектообразование в широкозонных полупроводникахKukk, Peeter-EnnПроблемы электронного материаловедения1986 / с. 16-29 : илл https://www.ester.ee/record=b2181832*est
• Новые методы люминесцентного анализа дефектной структуры кристалловKrustok, Jüri; Kukk, Peeter-EnnV всесоюзная школа "Физико-химические основы электронного материаловедения", 5-13 сент. 1988 г., Иркутск : тезисы докладов1988 / с. 101-102
• Новый метод определения доминирующих дефектов в полупроводниках типа A2B6Kukk, Peeter-Enn; Aarna, Heiti; Voogne, MaieВторое всесоюзное совещание по химии твердого тела, 11-13 мая 1978 г. Ч. 2 : тезисы докладов1978 / с. [30-31] https://www.ester.ee/record=b4433699*est
• О некоторых проблемах определения равновесия дефектов в бинарных полупроводниковых соединенияхLott, Kalju; Türn, LeoЭлектронные материалы1989 / с. 58-62
• Определение квазихимических параметров точечных дефектов в полупроводниковых соединенияхKukk, Peeter-Enn; Aarna, Heiti; Altosaar, Mare; Mädasson, Jaan; Mellikov, Enn; Aarna, AguEesti NSV Teaduste Akadeemia toimetised. Keemia = Proceedings of Academy of Sciences of the Estonian SSR. Chemistry = Известия Академии наук Эстонской ССР. Химия1985 / с. 247-252 https://www.ester.ee/record=b1264984*est https://www.etera.ee/zoom/19218/view?page=1&p=separate&view=0,0,2465,3986
• Определение равновесия дефектов в легированных бинарных полупроводниковых соединенияхTürn, LeoФизическая химия соединений AIIBVI1981 / с. 43-51 : илл https://www.ester.ee/record=b1533413*est https://digikogu.taltech.ee/et/Item/dceb76ed-f60b-4ce9-b87e-618a41d25bb8
• Основы направленного дефектообразования в полупроводниковых соединенияхKukk, Peeter-EnnЖурнал неорганической химии1984 / с. 1365-1373 : илл https://www.ester.ee/record=b1443384*est
• Отжиг дефектов в селениде цинкаKukk, Peeter-Enn; Rändur, ÕieПолупроводниковые материалы. 31976 / с. 139-149 : илл https://www.ester.ee/record=b1403374*est https://digikogu.taltech.ee/et/Item/5f8fd05c-ff69-4315-9d64-1d9c9611667b
• Отжиг дефектов в селениде цинка, созданных высокотемпературной диффузией медиRändur, Õie; Nõges, Märt; Kukk, Peeter-EnnТретья Всесоюзная конференция по физико-химическим основам легирования полупроводниковых материалов, Москва, 20-22 окт. 1975 г.1975 / с. 185-186
• Отжиг дефектов в сульфиде кадмияVarema, TiitII республиканская конференция молодых ученых-химиков, 17-19 мая 1977 : тезисы докладов. Часть 21977 / с. 107-108 https://www.ester.ee/record=b1308855*est
• Отжиг избыточных дефектов в CdSErm, Ants; Tuvike, Tiit5-я республиканская конференция молодых ученых-химиков : [тезисы докладов]1983 / с. 239 https://www.ester.ee/record=b1312297*est
• Отжиг радиационных дефектов постоянным током в GaAs-излучателяхManak, I.S.; Melnitšenko, V.V.Исследования по прикладной квантовой электронике1983 / с. 23-36 : ил https://www.ester.ee/record=b1271959*est https://digikogu.taltech.ee/et/Item/a565466d-098c-472e-b687-7647aea327b0
• Получены дефекты в КРТAltosaar, MareVI Всесоюзное совещание по химии и технологии молибдена и вольфрама, 13-15 сентября 1988 г. : тезисы докладов1988 / с. [73]
• Предотвращение трещин в цилиндровых втулках промысловых судовStrižak, Viktor; Soskind, GennadiЭкспресс-информация. Серия: Техническая эксплуатация флота1987 / с. 1-5
• Принятие управленческих решений : уценить бракованную продукцию или устранить дефекты?Alver, JaanБухгалтерские новости2006 / 4, с. 33-35
• Проблемы термодинамики точечных дефектов в монокристаллах селенида цинка : автореферат ... кандидата химических наук (02.00.04)Nõges, Märt1975 http://www.ester.ee/record=b1372150*est
• Проблемы термодинамики точечных дефектов в монокристаллах селенида цинка : диссертация на соискание ученой степени кандидата химических наукNõges, Märt1974 http://www.ester.ee/record=b4436590*est
• Простая техника метода аномального прохождения рентгеновских лучейRusalep, ErvinТруды по физике : сборник статей. 71975 / с. 29-33 : илл https://www.ester.ee/record=b2190700*est https://digikogu.taltech.ee/et/Item/bf8b5df4-d382-41b8-b242-1b2db192e257
• Процессы дефектообразования в примесном сульфиде кадмияMädasson, Jaan; Altosaar, Mare; Tomson, A.; Kukk, Peeter-EnnЭлектрофизические свойства полупроводниковых и диэлектрических материалов1988 / с. 57-65
• Процессы роста и формирование морфологии и структуры толстых автоэпитаксиальных слоев арсенида галлия при выращивании из раствора-расплаваMeiler, Boriss; Zolotarevski, L.; Orenštein, I.; Paat, AaduEesti NSV Teaduste Akadeemia toimetised. Füüsika. Matemaatika = Известия Академии наук Эстонской ССР. Физика. Математика = Proceedings of Academy of Sciences of the Estonian SSR. Physics. Mathematics1988 / lk. 310-314 : ill https://www.ester.ee/record=b1264310*est
• Равновесная дефектная структура селенида кадмия легированного серебромNirk, Tiit; Öpik, AndresПятая Всесоюзная конференция по физико-химическим основам легирования полупровдниковых материалов, Москва, 20-22 дек. 1982 г.) : тезисы докладов1982 / с. [?] https://www.ester.ee/record=b4436388*est
• Равновесная структура дефектов в CdSe : AlNirk, Tiit; Öpik, AndresФизическая химия соединений AIIBVI1984 / с. 3-9
• Растворимость хлора в CdS и структура точечных дефектов CdS:CIAltosaar, Mare; Kukk, Peeter-Enn; Hiie, JaanЖурнал неорганической химии1983 / с. 69-75 : ил https://www.ester.ee/record=b1443384*est
• Расчет квазихимических коэффициентов точечных дефектов в твердых телахKukk, Peeter-Enn; Mädasson, Jaan; Tuvike, Tiit; Krustok, Jüri; Tomson, A.Дефекты структуры и свойства керамики : четвертое Всесоюзное совещание по химии твердого тела, 11-13 июня 1985 г. : тезисы докладов. Ч.21985 / с. 14
• Структура дефектов в CdSe : AgNirk, Tiit; Öpik, AndresФизическая химия соединений AIIBVI1981 / с. 77-85 : ил https://www.ester.ee/record=b1533413*est https://digikogu.taltech.ee/et/Item/dceb76ed-f60b-4ce9-b87e-618a41d25bb8
• Структура дефектов в примесном CdSKukk, Peeter-Enn; Erm, AntsЖурнал неорганической химии1981 / с. 2310-2313 : илл https://www.ester.ee/record=b1443384*est
• Структура точечных дефектов в примесном сульфиде цинкаKukk, Peeter-Enn; Krustok, Jüri; Erm, Ants; Mädasson, Jaan; Moin, M.Журнал неорганической химии1984 / с. 46-50 : илл https://www.ester.ee/record=b1443384*est
• Термодинамика дефектов в CdSe : Cu : InNirk, Tiit; Oja, Alar; Kerm, KarinФизическая химия соединений А//II//В//VI//1987 / с. 3-12
• Термодинамика дефектов в селениде кадмия и двумя примесямиNirk, Tiit; Oja, A.Шестая Всесоюзная конференция по физико-химическим основам легирования полупроводниковых материалов, Москва, 17-19 окт. 1988 г. : тезисы докладов1988 / с. 193 https://www.ester.ee/record=b3430213*est
• Термодинамические расчеты концентрации точечных дефектов в соединениях A2B6 с применением ЭВМTürn, Leo; Lott, Kalju; Kivi, U.; Veel, EneI республиканская конференция молодых ученых-химиков, 20-22 мая 1975 года : тезисы докладов1975 / с. 193-194 https://www.ester.ee/record=b1309964*est
• Упругие модели дефектов в двумерных кристаллахKolesnikova, Anna; Orlova, T.; Hussainova, Irina; Romanov, AlexeyФизика твердого тела2014 / c. 2480-2485 : ил
• Фазовое равновесие и дефектная структура селенида кадмия, легированного серебромNirk, Tiit; Öpik, AndresФизика и техническое применение полупроводников AII BVI : тезисы докладов V свесоюзного совещания (1-2 декабря 1983 г.). Том 11983 / c. 87-88 https://www.ester.ee/record=b2796652*est