A novel fault-tolerant logic style with self-checking capability
autor
Taheri, Mahdi
Sheikhpour, Saeideh
Mahani, Ali
Jenihhin, Maksim
vastutusandmed
Taheri, Mahdi, Sheikhpour, Saeideh, Mahani, Ali, Jenihhin, Maksim
allikas
Proceedings - 2022 IEEE 28th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design, IOLTS 2022
ilmumiskoht
Piscataway, New Jersey
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2022
leheküljed
art. 183305 : ill
konverentsi nimetus, aeg
28th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design, 12-14 Sept. 2022
konverentsi toimumispaik
Torino, Italy
leitav
https://doi.org/10.1109/IOLTS56730.2022.9897818
märksõna
elektronahelad
veaavastus
enesekontroll
Scopus
Scopus
võtmesõna
Digital circuits
error detection
logic level
self-checking
ISBN
978-166547355-2
märkused
Bibliogr.: 27 ref
Open Access
Open Access
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
3.1
TTÜ struktuuriüksus
arvutisüsteemide instituut
keel
inglise
Uurimisrühm
Töökindla arvutusriistvara keskus (TARK)
Usaldusväärsete arvutisüsteemide keskus