An external test approach for network-on-a-chip switches
autor
Raik, Jaan
Govind, Vineeth
Ubar, Raimund-Johannes
vastutusandmed
Jaan Raik, Vineeth Govind, Raimund Ubar
allikas
ATS '06 : Proceedings of the 15th Asian Test Symposium : November 20-23, 2006, Fukuoka, Japan
ilmumiskoht
Washington
kirjastus/väljaandja
IEEE Computer Society
ilmumisaasta
2006
leheküljed
p. 437-442 : ill
konverentsi nimetus, aeg
15th Asian Test Symposium, November 20-23, 2006
konverentsi toimumispaik
Fukuoka, Japan
leitav
http://dx.doi.org/10.1109/ATS.2006.23
märksõna
kiipvõrgud
integraallülitused
testimine
ISBN
0-7695-2628-4
märkused
Bibliogr.: 14 ref
TTÜ struktuuriüksus
arvutitehnika instituut
keel
inglise