DOT: new deterministic defect-oriented ATPG tool
autor
Raik, Jaan
Ubar, Raimund-Johannes
Sudbrock, Joachim
Kuzmicz, Wieslaw
Pleskacz, Witold A.
vastutusandmed
Jaan Raik, Raimund Ubar, Joachim Sudbrock, Wieslaw Kuzmicz, Witold Pleskacz
allikas
European Test Symposium : ETS 2005 : 22-25 May 2005, Tallinn, Estonia : proceedings
ilmumiskoht
Los Alamitos
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2005
leheküljed
p. 96-101 : ill
ISBN
0-7695-2341-2
märkused
Bibliogr.: 10 ref