Probabilistic equivalence checking based on high-level decision diagrams

vastutusandmed
Anton Karputkin, Raimund Ubar, Mati Tombak, Jaan Raik
ilmumiskoht
[S.l.]
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
p. 423-428 : ill
konverentsi nimetus, aeg
IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems : April 13-15, 2011
konverentsi toimumispaik
Gottbus, Germany
ISBN
978-1-4244-9753-9
märkused
Bibliogr.: 14 ref
keel
inglise