Bringing research issues into lab scenarios on the example of SoC testing [Electronic resource]
autor
Ubar, Raimund-Johannes
Jutman, Artur
Devadze, Sergei
Wuttke, Heinz-Dietrich
vastutusandmed
Raimund Ubar, Artur Jutman, Sergei Devadze, Heinz-Dietrich Wuttke
allikas
International Conference on Engineering Education - ICEE 2007 : September 3-7, 2007, Coimbra, Portugal
ilmumiskoht
[S.l.]
kirjastus/väljaandja
iNEER
ilmumisaasta
2007
leheküljed
[7] p. : ill. [CD-ROM]
leitav
http://icee2007.dei.uc.pt/proceedings/papers/429.pdf
märksõna
kaugõpe
arvutipõhine õpe
digitaaltehnika
kiipvõrgud
võtmesõna
computer-aided teaching
distance learning
research-oriented learning
digital systems
system-on-chip
design and test
built-in self-test
gate and register transfer levels
hierarchical approaches
ISBN
978-972-8055-14-1
märkused
Bibliogr.: 11 ref
TTÜ struktuuriüksus
arvutitehnika instituut
keel
inglise