On reusability of verification assertions for testing
autor
Jenihhin, Maksim
Raik, Jaan
Ubar, Raimund-Johannes
Tšepurov, Anton
vastutusandmed
Maksim Jenihhin, Jaan Raik, Raimund Ubar, Anton Chepurov
allikas
BEC 2008 : 2008 International Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 11th Biennial Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology : October 6-8, 2008, Tallinn, Estonia
ilmumiskoht
[Tallinn]
kirjastus/väljaandja
Tallinn University of Technology
ilmumisaasta
2008
leheküljed
p. 151-154 : ill
märksõna
hinnangud
verifikatsioon
testimine
ISBN
978-1-4244-2059-9
märkused
Bibliogr.: 24 ref
keel
inglise