Off-line testing of delay faults in NoC interconnects
autor
Bengtsson, Tomas
Jutman, Artur
Kumar, Shashi
Peng, Zebo
Ubar, Raimund-Johannes
vastutusandmed
Tomas Bengtsson, Artur Jutman, Shashi Kumar, Raimund Ubar, Zebo Peng
allikas
9th EUROMICRO Conference on Digital Systems Design : Architectures, Methods and Tools (DSD 2006) : 30 August 2006-1 September 2006, Cavtat near Dubrovnik, Croatia : proceedings
ilmumiskoht
Los Alamitos
kirjastus/väljaandja
IEEE Computer Society
ilmumisaasta
2006
leheküljed
p. 677-680 : ill
konverentsi nimetus, aeg
9th EUROMICRO Conference on Digital Systems Design, 30 August-1 September, 2006
konverentsi toimumispaik
Cavtat, Croatia
leitav
http://dx.doi.org/10.1109/DSD.2006.72
märksõna
integraallülitused
testimine
ISBN
978-0-7695-2609-6
märkused
Bibliogr.: 13 ref
TTÜ struktuuriüksus
arvutitehnika instituut
keel
inglise