Simulations of wide bandgap SiC N-N heterostructure diode
                                            vastutusandmed
                                    
                                    
Udayan S Patankar, Ants Koel, Tamás Pardy
                                                    
                                            
                                            allikas
                                    
                                    
2020 IEEE International Conference on Consumer Electronics (ICCE), Las Vegas, NV, USA, January 4-6, 2020
                                                    
                                            
                                            ilmumiskoht
                                    
                                    
Danvers
                                                    
                                            
                                            kirjastus/väljaandja
                                    
                                    
                                
                                            ilmumisaasta
                                    
                                    
                                
                                            leheküljed
                                    
                                    
4 p
                                                    
                                            
                                            konverentsi nimetus, aeg
                                    
                                    
2020 IEEE International Conference on Consumer Electronics (ICCE), 4-6 Jan. 2020
                                                    
                                            
                                            konverentsi toimumispaik
                                    
                                    
Las Vegas, NV, USA
                                                    
                                            
                                            ISSN
                                    
                                    
2158-4001
                                                    
                                            
                                            ISBN
                                    
                                    
978-7281-5186
                                                    
                                            
                                            märkused
                                    
                                    
Bibliogr.: 24 ref
                                                    
                                            
                                            TTÜ struktuuriüksus
                                    
                                    
                                
                                            keel
                                    
                                    
inglise
                                                    
                                            
                                            märksõna
                                    
                                    
                                
                                            võtmesõna
                                    
                                    
carrier mobility
                                                    
                                                    
III-V semiconductors
                                                    
                                                    
                                                    
semiconductor heterojunctions
                                                    
                                                    
silicon compounds
                                                    
                                                    
technology CAD (electronics)
                                                    
                                                    
                                            
                            Patankar, U.S., Koel, A., Pardy, T. Simulations of wide bandgap SiC N-N heterostructure diode // 2020 IEEE International Conference on Consumer Electronics (ICCE), Las Vegas, NV, USA, January 4-6, 2020. Danvers : IEEE, 2020. 4 p.