Modeling soft-error reliability under variability
autor
Balakrishnan, Aneesh
Cardoso Medeiros, Guilherme
Gürsoy, Cemil Cem
Hamdioui, Said
Jenihhin, Maksim
Alexandrescu, Dan
vastutusandmed
Aneesh Balakrishnan; Guilherme Cardoso Medeiros; Cemil Cem Gürsoy; Said Hamdioui; Maksim Jenihhin; Dan Alexandrescu
allikas
2021 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT) : 6-8 Oct. 2021
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2021
leheküljed
p. 1-6
konverentsi nimetus, aeg
2021 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT) : 6-8 Oct. 2021
leitav
https://doi.org/10.1109/DFT52944.2021.9568295
märksõna
analüüs
termilised mõõtmised
vead
modelleerimine (teadus)
tõrked
pinge
võtmesõna
Negative bias temperature instability
analytical models
thermal variables control
voltage
aging
very large scale integration
data models
ISSN
2765-933X
ISBN
978-1-6654-1609-2
märkused
Bibliogr.: 19 ref
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
3.1
TTÜ struktuuriüksus
arvutisüsteemide instituut
keel
inglise
Uurimisrühm
Töökindla arvutusriistvara keskus (TARK)
Usaldusväärsete arvutisüsteemide keskus