New method of testability calculation to guide RT-level test generation
autor
Raik, Jaan
Nõmmeots, Tanel
Ubar, Raimund-Johannes
vastutusandmed
Jaan Raik, Tanel Nõmmeots, Raimund Ubar
allikas
4th IEEE Latin-American Test Workshop : LATW2003 : Natal, Brazil, February 16-19, 2003
ilmumiskoht
[S. l.]
ilmumisaasta
2003
leheküljed
p. 46-51 : ill
leitav
https://link.springer.com/article/10.1007/s10836-005-5288-5
märksõna
digitaaltehnika
testimine
otsustusdiagrammid
märkused
Bibliogr.: 12 ref
keel
inglise