Identifying untestable faults in sequential circuits using test path constraints
autor
Viilukas, Taavi
Karputkin, Anton
Raik, Jaan
Jenihhin, Maksim
Ubar, Raimund-Johannes
Fujiwara, Hideo
vastutusandmed
Taavi Viilukas, Anton Karputkin, Jaan Raik, Maksim Jenihhin, Raimund Ubar, Hideo Fujiwara
allikas
Journal of electronic testing : theory and applications (JETTA)
ajakirja aastakäik number kuu
Vol. 28, 4
ilmumisaasta
2012
leheküljed
p. 511-521 : ill
võtmesõna
automated test pattern generation
untestable faults
register-transfer level
ISSN
0923-8174
märkused
Bibliogr.: 23 ref
keel
inglise