Measurement of the lifetime of nonequilibrium charge carriers in silicon using photoelectric methods
autor
Graf, Aleksandr
Gavrilov, Aleksei
Suurvarik, Pavel
vastutusandmed
Aleksander Graf, Aleksei Gavrilov, Pavel Suurvarik
allikas
International journal of engineering and applied sciences (EAAS)
ajakirja aastakäik number kuu
Vol. 6, 4
ilmumisaasta
2015
leheküljed
p. 26-31 : ill
leitav
http://eaas-journal.org/survey/userfiles/files/v6i303%20Physics.pdf
märksõna
pooljuhtmaterjalid
elutsüklid (tehnika)
mõõtmismeetodid
võtmesõna
methods of measuring
nonequilibrium charge carriers
lifetime of carriers
ISSN
2305-8269
märkused
Bibliogr.: 2 ref
TTÜ struktuuriüksus
füüsikainstituut
keel
inglise