kompaktne vaade prindi

Thermal investigations of microsystems

autor
Szekely, Vladimir
vastutusandmed
Vladimir Szekely
allikas
BEC'96 : the 5th Biennial Baltic Electronics Conference, October 7-11, 1996, Tallinn, Estonia : proceedings
ilmumiskoht
[Tallinn]
ilmumisaasta
1996
leheküljed
p. 29-36: ill
märksõna
süsteemid
termiline analüüs
simulatsioon
mõõtmine
disain
testimine
ISBN
9985-59-026-0
märkused
Bibl. 13 ref
keel
inglise
Szekely, V.* Thermal investigations of microsystems // BEC'96 : the 5th Biennial Baltic Electronics Conference, October 7-11, 1996, Tallinn, Estonia : proceedings. [Tallinn], 1996. p. 29-36: ill.