Characterization of Interfaces Between the Metal Film and Silicon Carbide Semiconductor = Metallkontakti ja ränikarbiidi vahelise liidespinna karakteriseerimine
autor
juhendaja
vastutusandmed
Mehadi Hasan Ziko ; [supervisor Ants Koel, co-supervisor Tamas Pardy ; Tallinn University of Technology, School of Information Technologies, Thomas Johann Seebeck Department of Electronics]
dissertatsiooni liik
doktoritöö
ülikool/teadusasutus
Tallinna Tehnikaülikool
ilmumiskoht
Tallinn
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
161 p. : ill
seeria-sari
Tallinn University of Technology. Doctoral thesis = Tallinna Tehnikaülikool. Doktoritöö ; 52
märksõna
vormimärksõna
ISSN
2585-6898
ISBN
978-9949-83-763-2
märkused
Includes bibliogr
Thesis (Ph.D.) : Tallinn University of Technology, 2021
Kättesaadav ka võrguteavikuna
Kokkuvõte eesti keeles
Autori CV inglise ja eesti keeles, lk. 160-161
leitav
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
Ziko, M.H. Characterization of Interfaces Between the Metal Film and Silicon Carbide Semiconductor = Metallkontakti ja ränikarbiidi vahelise liidespinna karakteriseerimine. Tallinn : TalTech Press, 2021. 161 p. : ill. (Tallinn University of Technology. Doctoral thesis = Tallinna Tehnikaülikool. Doktoritöö ; 52).