Метод исследования технологического процесса производства интегральных микросхем, основанный на анализе кластеров состояний

ilmumiskoht
Таллин
ilmumisaasta
leheküljed
с. 39-43
seeria variantpealkiri
TPI Toimetised ; 540
Труды ТПИ ; 540
märkused
Библиогр. : 4 назв
keel
vene