Combining dynamic slicing and mutation operators for ESL correction
autor
Repinski, Urmas
Hantson, Hanno
Jenihhin, Maksim
Raik, Jaan
Ubar, Raimund-Johannes
vastutusandmed
Urmas Repinski, Hanno Hantson, Maksim Jenihhin, Jaan Raik, Raimund Ubar, ... [et al.]
allikas
Proceedings : 2012 17th IEEE European Test Symposium (ETS) : May 28th-June 1st, 2012, Annecy, France
ilmumiskoht
Los Alimitos
kirjastus/väljaandja
IEEE Computer Society
ilmumisaasta
2012
leheküljed
[6] p. : ill
konverentsi nimetus, aeg
2012 17th IEEE European Test Symposium (ETS), May 28th-June 1st, 2012
konverentsi toimumispaik
Annecy, France
leitav
https://ieeexplore.ieee.org/document/6233020
märksõna
silumine (informaatika)
vead
parandamine
testimine
algoritmid
ISBN
978-1-4673-0697-3
märkused
Bibliogr.: 28 ref
keel
inglise