Turning JTAG inside out for fast extended test access
autor
Devadze, Sergei
Jutman, Artur
Aleksejev, Igor
Ubar, Raimund-Johannes
vastutusandmed
Sergei Devadze, Artur Jutman, Igor Aleksejev, Raimund Ubar
allikas
10th IEEE Latin American Test Workshop : 2-5 March 2009, Brazil
ilmumiskoht
[S.l.]
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2009
leheküljed
[6] p. : ill
leitav
https://ieeexplore.ieee.org/document/4813799
märksõna
tselluloosi- ja paberitööstus
riistvara
tarkvara
testimine
arvutivõrgud
võrguprotokollid
ISBN
978-1-4244-4206-5
märkused
Bibliogr.: 11 ref
keel
inglise