Jervan, G., Eles, P., Peng, Z., Raik, J., Ubar, R.

täiskirje prindi

High-level test synthesis with hierarchical test generation

autor

Jervan, Gert

Eles, Petru

Peng, Zebo

Raik, Jaan

Ubar, Raimund-Johannes

vastutusandmed

Gert Jervan, Petru Eles, Zebo Peng, Jaan Raik, Raimund Ubar

allikas

17th NORCHIP Conference : Oslo, Norway, 8-9 November 1999 : proceedings

ilmumiskoht

[S.l.]

kirjastus/väljaandja

IEEE

ilmumisaasta

1999

leheküljed

p. 291-296

ISBN

87-982637-2-2

märkused

Bibl. 9 ref

keel

inglise

Märksõnad ja võtmesõnad

märksõna

testid

testimine

süntees

Jervan, G., Eles, P., Peng, Z., Raik, J., Ubar, R. High-level test synthesis with hierarchical test generation // 17th NORCHIP Conference : Oslo, Norway, 8-9 November 1999 : proceedings. [S.l.] : IEEE, 1999. p. 291-296.