Combining functional and structural approaches in test generation for digital systems
autor
Ubar, Raimund-Johannes
vastutusandmed
Raimund Ubar
allikas
Microelectronics reliability
ajakirja aastakäik number kuu
Vol. 38
ilmumisaasta
1998
leheküljed
3, p. 317-329 : ill
märksõna
digitaaltehnika
testimine
testid
märkused
Bibliogr.: 33 ref
keel
inglise