Comparison of Si and SiC devices surge current capability by means of numerical simulations
autor
Velmre, Enn
Udal, Andres
vastutusandmed
Enn Velmre and Andres Udal
allikas
BEC'96 : the 5th Biennial Baltic Electronics Conference, October 7-11, 1996, Tallinn, Estonia : proceedings
ilmumiskoht
[Tallinn]
kirjastus/väljaandja
Tallinn Technical University
ilmumisaasta
1996
leheküljed
p. 77-80: ill
märksõna
ränikarbiid
dioodid
matemaatilised mudelid
võrdlev analüüs
ISBN
9985-59-026-0
märkused
Bibl.: 11 ref
TTÜ struktuuriüksus
elektroonikainstituut
keel
inglise