Interaction of point defects with impurities in the Si-SiO2 system and its influence on the properties of the interface
autor
Kropman, Daniel
Mellikov, Enn
Lott, Kalju
Kärner, T.
Heinmaa, I.
Laas, Tõnu
Medvid, A.
Skroupa, W.
Prucnal, S.
Zvyagin, S.
Cizmar, E.
Ozerov, M.
Wosnitsa, J.
vastutusandmed
D.Kropman, E.Mellikov, K.Lott, T.Kärner, I.Heinmaa, T.Laas, A.Medvid, W.Skroupa, S.Prucnal, S.Zvyagin, E.Cizmar, M.Ozerov, J.Wosnitsa
allikas
Solid state phenomena
ajakirja aastakäik number kuu
Vol. 156/158
ilmumisaasta
2010
leheküljed
p. 145-148 : ill
leitav
https://www.sciencedirect.com/science/article/abs/pii/S0040609009014564
märksõna
õhukesed kiled
tuumamagnetresonants
magnetresonants
ISSN
1012-0394
märkused
Bibliogr.: 3 ref
keel
inglise