Системное исследование влияния технологического микроклимата на качество интегральных микросхем
autor
Rätsep, Ülo
allikas
Методы обработки и регистрации сигналов
ilmumiskoht
Таллин
kirjastus/väljaandja
Таллинский политехнический институт
ilmumisaasta
1981
leheküljed
с. 53-58
seeria-sari
Tallinna Polütehnilise Instituudi toimetised = Труды Таллинского политехнического института ; 521
Радиотехника ; 9
seeria variantpealkiri
TPI Toimetised ; 521
Труды ТПИ ; 521
TTÜ märksõna
Tallinna Tehnikaülikooli toimetised
märkused
Библиогр. : 5 назв
keel
vene