An iterative approach to test time minimization for parallel hybrid BIST architecture
autor
Ubar, Raimund-Johannes
Jenihhin, Maksim
Jervan, Gert
Peng, Z.
vastutusandmed
Raimund Ubar, Maksim Jenihhin, Gert Jervan, Zebo Peng
allikas
5th IEEE Latin-American Test Workshop - LATW 2004 : Cartagena, Colombia, 2004 : digest of papers
ilmumiskoht
[S.l.]
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2004
leheküljed
p. 98-103 : ill
konverentsi nimetus, aeg
5th IEEE Latin-American Test Workshop, Cartagena, Colombia, March 8-10, 2004
konverentsi toimumispaik
Cartagena, Colombia
leitav
https://www.ida.liu.se/labs/eslab/publications/pap/db/latw04.pdf
märksõna
infotehnoloogia
testimine
märkused
Bibliogr.: 14 ref
keel
inglise