A tool for random test generation targeting high diagnostic resolution
autor
Osimiry, Emmanuel Ovie
Kostin, Sergei
Raik, Jaan
Ubar, Raimund-Johannes
vastutusandmed
Emmanuel Ovie Osimiry, Sergei Kostin, Jaan Raik, Raimund Ubar
allikas
BEC 2016 : 2016 15th Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 15th Biennial Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology, October 3-5, 2016, Tallinn, Estonia
ilmumiskoht
Tallinn
kirjastus/väljaandja
Tallinn University of Technology
ilmumisaasta
2016
leheküljed
p. 79-82 : ill
konverentsi nimetus, aeg
2016 15th Biennial Baltic Electronics Conference, October 3-5, 2016
konverentsi toimumispaik
Tallinn, Tallinn University of Technology
leitav
http://www.ester.ee/record=b2150914*est
märksõna
rikked
testimine
digitaaltehnika
võtmesõna
digital circuits and systems
fault diagnosis
diagnostic resolution
ISBN
978-1-5090-1392-0
märkused
Bibliogr.: 23 ref
TTÜ struktuuriüksus
arvutitehnika instituut
keel
inglise