Comparative analysis of sequential circuit test generation approaches
autor
Raik, Jaan
Krivenko, Anna
Ubar, Raimund-Johannes
vastutusandmed
J.Raik, A.Krivenko, R.Ubar
allikas
BEC 2004 : proceedings of the 9th Biennial Baltic Electronics Conference : October 3-6, 2004, Tallinn, Estonia
ilmumiskoht
Tallinn
kirjastus/väljaandja
Tallinn University of Technology
ilmumisaasta
2004
leheküljed
p. 225-228 : ill
märksõna
generaatorid
testimine
võrdlev analüüs
ISBN
9985-59-462-2
märkused
Bibliogr.: 12 ref
keel
inglise