Fast fault emulation for synchronous sequential circuits
autor
Raik, Jaan
Ellervee, Peeter
Tihhomirov, Valentin
Ubar, Raimund-Johannes
vastutusandmed
J. Raik, P. Ellervee, V. Tihhomirov, R. Ubar
allikas
Proceedings of East–West Design & Test Workshop (EWDTW’04) : Yalta, Alushta, Crimea, Ukraine, September 23-26, 2004
ilmumiskoht
[Kharkov]
ilmumisaasta
2004
leheküljed
p. 35-40
konverentsi nimetus, aeg
2nd East–West Design & Test Workshop, September 23-26, 2004
konverentsi toimumispaik
Yalta, Alushta, Crimea, Ukraine
leitav
https://citeseerx.ist.psu.edu/document?repid=rep1&type=pdf&doi=a6eb712498a5f23db3f95ad66bada257c21e96f0
märksõna
digitaalintegraallülitused
testimine
ISBN
966-659-088-3
keel
inglise