Copetti, T., Medeiros, G., Bolzani Poehls, L., Vargas, F., Kostin, S., Jenihhin, M., Raik, J., Ubar, R.

prindi

Gate-level modelling of NBTI-induced delays under process variations

autor

Copetti, Thiago

Cardoso Medeiros, Guilherme

Bolzani Poehls, Leticia

Vargas, Fabian

Kostin, Sergei

Jenihhin, Maksim

Raik, Jaan

Ubar, Raimund-Johannes

vastutusandmed

Thiago Copetti, Guilherme Medeiros, Leticia Bolzani Poehls, Fabian Vargas, Sergei Kostin, Maksim Jenihhin, Jaan Raik, Raimund Ubar

allikas

LATS 2016 : 17th IEEE Latin-American Test Symposium, Foz do Iguacu, Brazil, 6th-9th April 2016

ilmumiskoht

[S.l.]

kirjastus/väljaandja

IEEE

ilmumisaasta

2016

leheküljed

p. 75-80 : ill

konverentsi nimetus, aeg

17th Latin-American Test Symposium, 6-9 April, 2016

konverentsi toimumispaik

Foz do Iguacu, Brazil

leitav

http://dx.doi.org/10.1109/LATW.2016.7483343

märksõna

integraallülitused

elutsüklid (tehnika)

võtmesõna

reliability

NBTI

static timing analysis

aging

SPICE

ISBN

978-1-5090-1331-9

märkused

Bibliogr.: 20 ref

TTÜ struktuuriüksus

arvutitehnika instituut

keel

inglise

Copetti, T., Medeiros, G., Bolzani Poehls, L., Vargas, F., Kostin, S., Jenihhin, M., Raik, J., Ubar, R. Gate-level modelling of NBTI-induced delays under process variations // LATS 2016 : 17th IEEE Latin-American Test Symposium, Foz do Iguacu, Brazil, 6th-9th April 2016. [S.l.] : IEEE, 2016. p. 75-80 : ill. http://dx.doi.org/10.1109/LATW.2016.7483343