Multiple stuck-at-fault detection theorem
autor
Ubar, Raimund-Johannes
Kostin, Sergei
Raik, Jaan
vastutusandmed
Raimund Ubar, Sergei Kostin, Jaan Raik
allikas
Proceedings of the 2012 IEEE 15th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS) : April 18-20, 2012 Tallinn, Estonia
ilmumiskoht
Tallinn
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2012
leheküljed
p. 236-241 : ill
konverentsi nimetus, aeg
IEEE 15th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS), April 18-20, 2012
konverentsi toimumispaik
Tallinn
märksõna
rikked
testimine
diagnostika (tehnika)
võtmesõna
combinational circuits
multiple faults
fault masking
ISBN
978-1-4673-1185-4
märkused
Bibliogr.: 24 ref
keel
inglise