A scalable static test set compaction method for sequential circuits
autor
Aleksejev, Igor
Raik, Jaan
Jutman, Artur
Ubar, Raimund-Johannes
vastutusandmed
Igor Aleksejev, Jaan Raik, Artur Jutman, Raimund Ubar
allikas
Proceedings of the 9th IEEE Latin-American Test Workshop : LATW2008 : February 17-20, 2008, Puebla, Mexico
ilmumiskoht
[S.l.]
ilmumisaasta
2008
leheküljed
p. 87-92 : ill
märksõna
testimine
elektriahelad
märkused
Bibliogr.: 17 ref
keel
inglise